[发明专利]一种芯片工作状态选择电路、方法及其应用

说明书

一种芯片工作状态选择电路、方法及其应用，包括第一电阻RV、第二电阻RF和阻值处理电路，所述的阻值处理电路封装在芯片U1中，所述的第一电阻RV和第二电阻RF分别通过芯片U1的两个管脚与阻值处理电路相连，阻值处理电路将采集到的阻值信号相比得到表征第一电阻RV与第二电阻RF阻值比的比例信号VD，通过调整第一电阻RV与第二电阻RF的阻值比，使得芯片U1中的功能电路根据与阻值比对应的比例信号VD调整芯片U1的工作状态。本发明提供一种可实现多种工作状态调整、电路结构简单可靠、控制管脚占用少的芯片工作状态选择电路、方法及其应用。

技术领域

本发明涉及集成电路设计领域，尤其涉及一种芯片工作状态选择电路、方法及其应用。

背景技术

随着集成电路技术的进步，芯片会朝着尺寸更加紧凑，功能更为复杂的方向去发展。芯片在实际电路应用的过程中，为了提高芯片的工作效率，会通过芯片上的部分管脚来实现对芯片工作模式的切换以及对芯片中工作参数的调整等选择性操作。具体地，现有技术中一般是采用对芯片控制管脚施加高、低电平或通过芯片中内部电路检测芯片外设开关的闭合时间来完成芯片工作状态选择操作的。

采用高、低电平调整芯片工作状态的技术方案由于施加到管脚的电压只有两种情况，导致所能控制选择的工作状态也仅限于两种，限制了芯片的状态选择进而大大降低了芯片的工作效率，若想通过高、低电平的方式扩大选择状态范围只能增加控制管脚，在芯片尺寸越来越紧凑且管脚作用越来越珍贵的情况下，这种设计势必会造成管脚的浪费，降低了芯片的使用效率。而检测开关闭合时间完成选择操作的技术方案，其内置在芯片中的检测电路较为复杂，不仅会影响芯片的封装尺寸，同时增加了芯片的设计难度及成本，此外，外设开关的方案不能够应用于所有类型的芯片，实用性较低。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种可实现多种工作状态调整、电路结构简单可靠、控制管脚占用少的芯片工作状态选择电路、方法及其应用。

为实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种芯片工作状态选择电路，包括第一电阻RV、第二电阻RF和阻值处理电路1，所述的阻值处理电路1封装在芯片U1中，所述的第一电阻RV和第二电阻RF分别通过芯片U1的两个管脚与阻值处理电路1相连。阻值处理电路1将采集到的阻值信号相比得到表征第一电阻RV与第二电阻RF阻值比的比例信号VD，通过调整第一电阻RV与第二电阻RF的阻值比，使得芯片U1中的功能电路根据与阻值比对应的比例信号VD调整芯片U1的工作状态。

优选地，所述芯片U1的管脚包括控制管脚A和功能管脚B，所述控制管脚A与可调整的第一电阻RV相连用于提供阻值比中变化部分的阻值，所述功能管脚B被配置为与固定的第二电阻RF相连用于提供阻值比中固定部分的阻值。

优选地所述功能管脚B还分别与封装在芯片U1内的使用电路3及阻值处理电路1相连，第二电阻RF作为使用电路3在芯片U1外的外设电阻。

优选地，所述阻值处理电路1输出的比例信号VD为数字信号。

优选地，所述的阻值处理电路1包括电流源和模数转换器ADC，所述第一电阻RV的一端与电流源相连接另一端接地，第一电阻RV与电流源之间设有第一采样点O，所述第二电阻RF的一端与的电流源相连接另一端接地，第二电阻RF与电流源之间设有第二采样点P。所述的第一采样点O和第二采样点P分别与模数转换器ADC的输入端相连接，所述模数转换器ADC被配置为将第一电阻RV与第二电阻RF相比并将相比结果进行模数转换得到比例信号VD。

优选地，所述第一采样点O与电流源之间设有采样开关，所述第二采样点P与电流源之间也设有采样开关，采样开关被配置为在芯片U1上电时导通，进而在上电时刻得到表征第一电阻RV与第二电阻RF比值的比例信号VD。