[发明专利]一种轨道测量装置及方法

权利要求书

1.一种轨道测量装置，其特征在于，包括：水平尺和伸缩支架；所述水平尺内部嵌入设置水平气泡，所述水平尺的一端与一侧轨道的顶面紧贴接触，且所述水平尺的长度方向与所述轨道的长度方向垂直放置，所述水平尺的另一端与所述伸缩支架相连，所述伸缩支架沿竖直方向高度可调；

所述水平尺包括第一尺段和第二尺段，所述第一尺段的一端与所述轨道相接，所述第一尺段的另一端与一伸缩杆的底端相连，所述伸缩杆的顶端与所述第二尺段的一端相连，所述第二尺段的另一端与所述伸缩支架相连，所述伸缩杆沿竖直方向高度可调；

还包括：固定尺；所述固定尺包括第一侧板和第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板垂直相连，所述水平尺的一端与所述第一侧板相连，且所述水平尺的长度方向与所述第二侧板的长度方向垂直，所述第一侧板与所述轨道的顶面接触，所述第二侧板与所述轨道的侧面接触；

所述水平尺包括：伸缩水平尺，所述伸缩水平尺内部嵌套设置副尺；在所述伸缩水平尺上设置锁紧结构，所述锁紧结构用于调整所述副尺的长度。

2.根据权利要求1所述的轨道测量装置，其特征在于，所述水平尺的另一端与底座相连，所述底座与所述伸缩支架的顶端可拆卸连接，所述底座用于支撑放置水准仪塔尺、全站仪对中杆或者定位装置。

3.一种轨道测量方法，基于如权利要求1或2所述的轨道测量装置，其特征在于，包括：

确定轨道外引出点的位置，其中所述引出点与待测测量点的连线与轨道的长度方向垂直，且所述引出点与所述测量点在竖直方向上的高度差已知；

测量获得所述引出点的轨面信息；

根据所述引出点的轨面信息，获得所述测量点的轨面信息。

4.根据权利要求3所述的轨道测量方法，其特征在于，确定轨道外引出点的位置以及测量获得所述引出点的轨面信息包括：

将水平尺一端紧贴所述轨道的顶面，且将固定尺的第二侧板紧贴所述轨道的侧壁放置；

调节伸缩支架，使得所述水平尺中的水平气泡处于中间位置；

将水准仪塔尺、全站仪对中杆或者定位装置放置在底座上，对所述引出点进行轨面信息测量，获得所述引出点的高程、平面坐标及里程。

5.根据权利要求4所述的轨道测量方法，其特征在于，根据所述引出点的轨面信息获得所述测量点的轨面信息包括：根据所述引出点的高程以及所述引出点和所述测量点之间的高度差，通过计算获得所述测量点的高程。

6.根据权利要求4或5所述的轨道测量方法，其特征在于，根据所述引出点的轨面信息获得所述测量点的轨面信息还包括：

根据所述引出点的平面坐标、引出点与测量点之间的水平距离，通过换算获得所述测量点的平面坐标；

其中，所述引出点与测量点之间的水平距离通过水平尺的刻度值获得。

7.根据权利要求6所述的轨道测量方法，其特征在于，根据所述引出点的轨面信息获得所述测量点的轨面信息还包括：

通过拟合所述测量点的平面坐标获得既有线线位；

根据所述既有线线位，通过定位装置放样获得既有线里程；

根据既有线里程，获得所述测量点的里程。