[发明专利]非易失性存储器设备及其操作方法

说明书

提供了一种非易失性存储器设备的操作方法，该非易失性存储器设备包括分别连接到多个字线的多个存储器单元。该操作方法包括：将擦除检测电压施加到多个字线中的所选字线，以响应于编程命令对连接到所选字线的存储器单元执行擦除检测操作；在擦除检测操作之后，将编程电压施加到所选字线；以及对已经执行擦除检测操作的存储器单元中的欠擦除单元的数目进行计数。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年10月12日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请号10-2017-0132754的权益，该申请的公开内容通过引用整体并入本文。

背景技术

本发明的构思涉及一种存储器设备，并且更具体地，涉及检测和修复有缺陷字线的非易失性存储器设备及其操作方法。

存储器设备可以用于存储数据，并且可以被分类为非易失性存储器设备和易失性存储器设备。作为非易失性存储器设备的实例，闪速存储器设备可以应用于便携式电话、数字照相机、个人数字助理(PDA)、移动计算机设备、固定计算机设备和/或其他设备。近来，因为信息通信设备配备有多种功能，所以期望大容量且高度集成的存储器设备。

发明内容

本发明的构思提供了一种非易失性存储器设备及其操作方法。

根据本发明构思的一些示例性实施例，提供了一种非易失性存储器设备的操作方法，所述非易失性存储器设备包括分别连接到多个字线的多个存储器单元，所述操作方法包括：将擦除检测电压施加到所述多个字线中的所选字线，以响应于编程命令对连接到所述所选字线的存储器单元执行擦除检测操作；在所述擦除检测操作之后，将编程电压施加到所述所选字线；以及对已经执行所述擦除检测操作的所述存储器单元中的欠擦除(undererased)单元的数目进行计数。

根据本发明构思的一些示例性实施例，提供了一种非易失性存储器设备的操作方法，所述非易失性存储器设备包括分别连接到多个字线的多个存储器单元，所述操作方法包括：响应于编程命令，将编程电压施加到所述多个字线中的所选字线；在施加所述编程电压之后，将擦除检测电压施加到所述所选字线，以对连接到所述所选字线的存储器单元中的禁止编程的存储器单元执行擦除检测操作；以及对已经执行所述擦除检测操作的所述禁止编程的存储器单元中的欠擦除单元的数目进行计数。

根据本发明构思的一些示例性实施例，提供了一种非易失性存储器设备的操作方法，所述非易失性存储器设备包括分别连接到多个字线的多个存储器单元，所述操作方法包括：响应于编程命令，将编程电压施加到所述多个字线中的所选字线；通过使用编程验证电压，对连接到所述所选字线的存储器单元中的已编程的存储器单元执行编程验证操作；通过使用所述编程验证电压，对连接到所述所选字线的所述存储器单元中的禁止编程的存储器单元执行擦除检测操作；以及对已经执行所述擦除检测操作的所述禁止编程的存储器单元中的欠擦除单元的数目进行计数。

根据本发明构思的一些示例性实施例，提供了一种非易失性存储器设备，所述非易失性存储器设备包括：存储器单元阵列，其包括分别连接到多个字线的多个存储器单元；页面缓冲器单元，其包括多个页面缓冲器，所述多个页面缓冲器分别连接到与所述多个字线中的所选字线连接的存储器单元，并且配置为在对所述所选字线执行编程操作之前或之中分别存储所述存储器单元的擦除检测结果；以及计数器，其连接到所述多个页面缓冲器，并且配置为从所述擦除检测结果来对欠擦除单元的数目进行计数。

附图简述

通过以下结合附图的详细描述，可以更清楚地理解本发明构思的示例性实施例，在附图中：

图1是示出根据实施例的存储器系统的框图；

图2A和图2B示出包括有缺陷字线的存储器设备的操作的实例；

图3是示出根据实施例的存储器设备的框图；

图4示出图3的第一存储器块的等效电路图；