[发明专利]一种应用于包含复杂信息的机箱表面划痕检测方法

权利要求书

1.本发明设计了一种应用于包含复杂信息的机箱表面划痕检测方法，其实现过程是：

步骤1：启动采集图像的黑白摄像机，采集待检测机箱表面图像，得到机箱原始图；

步骤2：对步骤1中所述的机箱原始图进行拷贝，得到拷贝原始图；

步骤3：对步骤1中所述的机箱原始图进行灰度化处理得到灰度图像；

步骤4：对步骤3中所述的灰度图像进行形态学滤波处理，得到形态学滤波图像；

步骤5：对步骤4中所述的形态学滤波图像进行二值化处理得到二值图像；

步骤6：对步骤5中所述的二值图像中的像素逐行从左至右依次遍历，并以遍历像素为中心设置其指定方向四个元素编号为P5(东向)、P6(西南向)、P7(南向)、P8(东南向)；

步骤7：对步骤5中所述的二值图像进行P5方向划痕提取，判断步骤6中所述的遍历像素的值，将划痕部分像素设置为T，若所述的遍历像素的值等于T，所述的T的取值在0至255之间，则遍历下一个像素的值，并继续进行遍历判断是否等于所述的T，若不等于则执行步骤8；

步骤8：判断步骤6中所述的遍历像素的值是否大于0，若所述的遍历像素的值大于0则将该像素的值设定为步骤7中所述的T并进行步骤9，若所述的遍历像素的值不大于0则继续按照步骤6所述的顺序遍历下一个像素的值；

步骤9：按照P5方向对步骤5中所述的二值图像循环执行步骤7、步骤8，其中P5方向连续像素位置的计算公式如公式(1)所示；

nPoint＝cPoint+n 公式(1)

其中，nPoint表示下一个像素的位置，cPoint表示当前像素的位置，n表示移动的步数(n＝1，2，3，...)；

步骤10：设置步骤9中所述的循环次数为Q次，若满足所述的循环次数则执行步骤11，若不满足所述的循环次数则继续按照步骤6所述的顺序遍历下一个像素的值；

步骤11：按照步骤6所述的顺序遍历至最后一个像素后，对经过步骤9处理后的二值图像进行边缘检测得到轮廓边缘图像；

步骤12：对步骤11中所述的轮廓边缘图像进行轮廓位置寻找，得到包含轮廓位置的图像；

步骤13：对步骤12中所述的包含轮廓位置的图像进行轮廓面积计算；

步骤14：对步骤13中所述的轮廓面积进行大小判断，并设定阈值R；

步骤15：对大于步骤14中所述的阈值R的面积所在的位置，利用边框操作对步骤2中所述的拷贝原始图上标识出P5方向划痕所在位置，得到标识图像A；

步骤16：对步骤5中所述的二值图像进行P6方向划痕提取，判断步骤6中所述的遍历像素的值，若所述的遍历像素的值等于步骤7中所述的T则遍历下一个像素的值并继续进行遍历并判断是否等于步骤7中所述的T，若不等于则执行步骤8至步骤14，其中P6方向连续像素位置的计算公式如公式(2)所示；

nPoint＝cPoint+i*(nl-1) 公式(2)

其中，nPoint表示下一个像素的位置，cPoint表示当前像素的位置，nl表示图像每行含有元素的总数，i表示移动的步数(i＝1，2，3，...)；

步骤17：对大于步骤14中所述的阈值R的面积所在的位置，利用边框操作对步骤15所述的标识图像A上标识出P6方向划痕所在位置，得到标识图像B；

步骤18：对步骤5中所述的二值图像进行P7方向划痕提取，判断步骤6中所述的遍历像素的值，若所述的遍历像素的值等于步骤7中所述的T则遍历下一个像素的值并继续进行遍历并判断是否等于步骤7中所述的T，若不等于则执行步骤8至步骤14，其中P7方向连续像素位置的计算公式如公式(3)所示；

nPoint＝cPoint+i*nl 公式(3)

其中，nPoint表示下一个像素的位置，cPoint表示当前像素的位置，nl表示图像每行含有元素的总数，i表示移动的步数(i＝1，2，3，...)；

步骤19：对大于步骤14中所述的阈值R的面积所在的位置，利用边框操作对步骤17所述的标识图像B上标识出P7方向划痕所在位置，得到标识图像C；

步骤20：对步骤5中所述的二值图像进行P8方向划痕提取，判断步骤6中所述的遍历像素的值，若所述的遍历像素的值等于步骤7中所述的T则遍历下一个像素的值并继续进行遍历并判断是否等于步骤7中所述的T，若不等于则执行步骤8至步骤14，其中P8方向连续像素位置的计算公式如公式(4)所示；

nPoint＝cPoint+i*(nl+1) 公式(4)

其中，nPoint表示下一个像素的位置，cPoint表示当前像素的位置，nl表示图像每行含有元素的总数，i表示移动的步数(i＝1，2，3，...)；

步骤21：对大于步骤14中所述的阈值R的面积所在的位置，利用边框操作在步骤19所述的标识图像C上标识出P8方向划痕所在位置，完成机箱表面划痕检测。