[发明专利]一种非易失存储器处理方法及装置

权利要求书

1.一种非易失存储器处理方法，其特征在于，所述方法包括：

通过总线BUS将第二寄存器中用户输入的数据或上一次编程验证后的结果数据复制到第一寄存器中；其中，所述第一寄存器和所述第二寄存器均属于检测单元SA，所述第一寄存器与待检测存储单元对应；

通过第一寄存器的flgs引脚的电平状态，确定第一寄存器中的第一数据；其中所述第一寄存器用于存储对待检测存储单元进行写操作时的结果数据；其中，所述第一寄存器的flgs引脚的电平状态为高电平，反映出所述第一寄存器存储的第一数据为第一状态，所述第一寄存器的flgs引脚的电平状态为低电平，反映出所述第一寄存器存储的第一数据为第二状态，所述第二状态为“0”；

若所述第一数据为第一状态，对待检测存储单元对应的位线BL进行放电操作；其中，所述第一状态为“1”，表示所述第一数据为不需要进行编程验证的数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

若所述第一数据为第二状态，对待检测存储单元对应的位线BL进行充电操作。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定第一寄存器的第一数据的步骤之前，还包括：

通过总线BUS将第二寄存器中的数据复制到第一寄存器；所述第二寄存器用于存储用户输入的数据或编程验证后的数据；

对总线BUS充电。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：

建立所述BUS与所述待检测存储单元之间的电流回路；

若所述BUS的电压维持在高电平，对所述待检测存储单元进行编程验证操作；

若所述BUS的电压值减小，将所述BUS放电为0。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：

若所述BUS的电压为高电平，将BUS的电平状态写入所述第一寄存器中，使得第一寄存器中存储第二数据；

将所述第二数据通过或运算存储在所述第二寄存器中。

6.一种非易失存储器处理装置，其特征在于，所述装置包括：

通过总线BUS将第二寄存器中用户输入的数据或上一次编程验证后的结果数据复制到第一寄存器中；其中，所述第一寄存器和所述第二寄存器均属于检测单元SA，所述第一寄存器与待检测存储单元对应；

第一数据确定模块，用于通过第一寄存器的flgs引脚的电平状态，确定第一寄存器的第一数据；其中所述第一寄存器用于存储对待检测存储单元进行写操作时的结果数据；其中，所述第一寄存器的flgs引脚的电平状态为高电平，反映出所述第一寄存器存储的第一数据为第一状态，所述第一寄存器的flgs引脚的电平状态为低电平，反映出所述第一寄存器存储的第一数据为第二状态，所述第二状态为“0”；

第一放电模块，用于若所述第一数据为第一状态，对待检测存储单元对应的位线BL进行放电操作；其中，所述第一状态为“1”，表示所述第一数据为不需要进行编程验证的数据。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

第一充电模块，用于若所述第一数据为第二状态，对待检测存储单元对应的位线BL进行充电操作。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

复制模块，用于通过总线BUS将第二寄存器中的数据复制到第一寄存器；所述第二寄存器用于存储用户输入的数据或编程验证后的结果数据；

第二充电模块，用于对总线BUS充电。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，还包括：

电流回路建立模块，用于建立所述BUS与所述待检测存储单元之间的电流回路；

验证模块，用于若所述BUS的电压维持在高电平，对所述待检测存储单元进行编程验证操作；

第二放电模块，用于若所述BUS的电压值减小，将所述BUS放电为0。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，还包括：

写入模块，用于若所述BUS的电压为高电平，将BUS的电平状态写入所述第一寄存器中，使得第一寄存器中存储第二数据；

或运算模块，用于将所述第二数据通过或运算存储在所述第二寄存器中。