[发明专利]确定熔丝烧录编码的方法及装置有效
申请号: | 201810776588.8 | 申请日: | 2018-07-13 |
公开(公告)号: | CN109032619B | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 吴传奎;黄建刚;董源;王云松;高桂华;刘晓宇;程剑涛 | 申请(专利权)人: | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F8/61 | 分类号: | G06F8/61 |
代理公司: | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人: | 李杰 |
地址: | 200233 上海市徐汇*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 熔丝烧录 编码 方法 装置 | ||
1.一种确定熔丝烧录编码的方法,其特征在于,包括:
确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率;
根据所述多个分布区间分别对应的分布概率,确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码;
所述烧录编码用于指示熔丝烧录方案;
所述多个分布区间对应的分布概率的值与对应的熔丝烧录方案的失败概率成负相关。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定电路参数的多个分布区间包括:
根据所述电路参数的标准值确定所述电路参数采样数据中所有电路参数的偏差值,以根据所述偏差值确定电路参数的多个分布区间。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,每个所述分布区间对应的分布概率为该分布区间内的所有电路参数的出现概率的加和。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述熔丝烧录方案的失败概率为根据该所述熔丝烧录方案烧录熔丝时,所有熔丝的烧录失败概率的加和。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,若多个熔丝中所有熔丝的烧录失败概率相同,则所述熔丝烧录方案的失败概率为P=np,其中,P为熔丝烧录方案的失败概率,n为该熔丝烧录方案中需要烧录的熔丝的数量,p为一个熔丝的烧录失败概率。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率,确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码包括:
预先确定与所述多个分布区间的数量相同的所述烧录编码,并确定所述烧录编码对应的所述熔丝烧录方案的失败概率;
根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率,确定所述多个分布区间与所述烧录编码的一一对应关系。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率,确定所述多个分布区间与所述烧录编码的一一对应关系包括:
从未确定对应关系的所述分布区间中,确定分布概率最高的分布区间;
从未确定对应关系的所述烧录编码中,确定失败概率最低的熔丝烧录方案对应的烧录编码;
建立分布概率最高的分布区间和失败概率最低的熔丝烧录方案对应的烧录编码之间的对应关系。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率,确定所述多个分布区间和所述烧录编码的一一对应关系包括:
建立所述多个分布区间与所述烧录编码的一一预设对应关系;
根据所述分布概率由高至低的顺序,更新所述分布区间对应的所述烧录编码,以更新所述预设对应关系。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述更新所述分布区间对应的所述烧录编码包括:
根据预设对应关系确定与待更新的所述分布区间对应的第一烧录编码;
从未被更新烧录编码中确定熔丝烧录方案的失败概率最低的第二烧录编码;
若所述第一烧录编码对应的失败概率大于所述第二烧录编码对应的失败概率,则将所述第二烧录编码更新为所述待更新的分布区间对应的烧录编码。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述从未被更新烧录编码中确定熔丝烧录方案的失败概率最低的第二烧录编码包括:
确定分布概率小于待更新的所述分布区间的至少一个分布区间;
根据所述预设对应关系,确定所述至少一个分布区间分别对应的至少一个烧录编码;
根据所述至少一个烧录编码对应的熔丝烧录方案的失败概率,确定失败概率的最小值,以确定第二烧录编码。
11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述将所述第二烧录编码更新为所述待更新的分布区间对应的烧录编码包括:
互换所述第一烧录编码以及所述第二烧录编码分别对应的分布区间。
12.一种确定熔丝烧录编码的装置,其特征在于,包括:
第一程序,用于确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率;
第二程序,用于根据所述多个分布区间分别对应的分布概率,确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码;其中,
所述烧录编码用于指示熔丝烧录方案;
所述多个分布区间对应的分布概率的值与对应的熔丝烧录方案的失败概率成负相关。
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