[发明专利]确定熔丝烧录编码的方法及装置

说明书

本申请实施例提供了一种确定熔丝烧录编码的方法及装置，通过确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率；根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码。从而通过本申请实施例提供的方案可以将分布概率较高的分布区间与烧录失败概率较低的熔丝烧录方案对应的烧录编码相对应，从而在修调电路参数时降低失败概率，进而提高了集成电路的产品良率，还减少了测试时间。

技术领域

本申请实施例涉及电路技术领域，尤其涉及一种确定熔丝烧录编码的方法及装置。

背景技术

在现有的集成电路制作过程中，由于制作完成后得到的电路参数可能与预设的电路参数存在偏差，需要通过烧录熔丝来修改集成电路内部的连接关系，从而修调存在偏差的电路参数，以纠正集成电路的偏差，从而在不增加成本的前提下提高集成电路的性能。

但是由于工艺不足、熔丝烧录方案存在缺陷、电路版图设计存在缺陷等因素，可能会导致熔丝烧录操作失败的情况，使得得到的集成电路的产品的良率降低。因此，亟待提供一种技术方案，以有效解决由于熔丝烧录失败导致产品的良率降低的问题。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例所解决的技术问题之一在于提供一种确定熔丝烧录编码的方法及装置，用以解决现有技术中的上述问题。

本申请实施例提供了一种确定熔丝烧录编码的方法，其包括：

确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率；

根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码。

可选地，所述确定电路参数的多个分布区间包括：根据所述电路参数的标准值确定所述电路参数采样数据中所有电路参数的偏差值，以根据所述偏差值确定电路参数的多个分布区间。

可选地，每个所述分布区间对应的分布概率为该分布区间内的所有电路参数的出现概率的加和。

可选地，所述烧录编码用于指示熔丝烧录方案。

可选地，所述多个分布区间对应的分布概率的值与对应的熔丝烧录方案的失败概率成负相关。

可选地，所述熔丝烧录方案的失败概率为根据该所述熔丝烧录方案烧录熔丝时，所有熔丝的烧录失败概率的加和。

可选地，若多个熔丝中所有熔丝的烧录失败概率相同，则所述熔丝烧录方案的失败概率为P＝np，其中，P为熔丝烧录方案的失败概率，n为该熔丝烧录方案中需要烧录的熔丝的数量，p为一个熔丝的烧录失败概率。

可选地，所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码包括：预先确定与所述多个分布区间的数量相同的所述烧录编码，并确定所述烧录编码对应的所述熔丝烧录方案的失败概率；根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率，确定所述多个分布区间与所述烧录编码的一一对应关系。

可选地，所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率，确定所述多个分布区间与所述烧录编码的一一对应关系包括：从未确定对应关系的所述分布区间中，确定分布概率最高的分布区间；从未确定对应关系的所述烧录编码中，确定失败概率最低的熔丝烧录方案对应的烧录编码；建立分布概率最高的分布区间和失败概率最低的熔丝烧录方案对应的烧录编码之间的对应关系。

可选地，所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率，确定所述多个分布区间和所述烧录编码的一一对应关系包括：建立所述多个分布区间与所述烧录编码的一一预设对应关系；根据所述分布概率由高至低的顺序，更新所述分布区间对应的所述烧录编码，以更新所述预设对应关系。