[发明专利]质量分析装置和质量分析方法

说明书

提供质量分析装置和质量分析方法，能够提高包含杂质等第二物质在内的第一物质的检测精度并且缩短测定时间而不会使装置大型化。质量分析装置(110)对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置(110)的特征在于，其具有峰校正部(217)，当设各第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与第一物质的峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部(217)从试样中的第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算第一物质的质谱的净峰D的强度。

技术领域

本发明涉及质量分析装置和质量分析方法。

背景技术

为了确保树脂的柔软性，在树脂中包含有邻苯二甲酸酯等增塑剂，但是在2019 年及以后，根据欧洲特定有害物质限制(RoHS)，会限制四种邻苯二甲酸酯的使用。

因此，需要对树脂中的邻苯二甲酸酯进行鉴别和定量。

由于邻苯二甲酸酯是挥发性成分，因此能够使用现有公知的产生气体分析(EGA；Evolved Gas Analysis：逸出气分析)进行分析。关于该产生气体分析，是指通过气相色谱仪或质谱分析等各种分析装置对加热试样而产生的气体成分进行分析。

质量分析装置是公知的，例如也公开有为了测定同位素比而进行校正计算的技术(专利文献1)。

专利文献1：日本特许第4256208号公报

另外，在想要从包含有例如DBP、BBP、DEHP、DOTP作为邻苯二甲酸酯的试样中分别对作为限制对象物质的DBP、BBP、DEHP进行定量的情况下，通常，DBP、 BBP、DEHP、DOTP的分子量不同，因此能够区分开来进行质量分析。

然而，例如，以DBP的定量为例，当在质量分析装置中对从试样产生的气体成分进行离子化时，从DBP以外的BBP、DEHP、DOTP生成碎片离子，有时质谱的峰与DBP的质谱的峰重叠。而且，在该情况下，很难准确地对DBP进行定量。

另一方面，也能够在质量分析装置的前级设置气相色谱仪，将碎片离子分离出而对DBP单体进行定量，但存在如下的问题：由于增加了气相色谱仪而导致装置整体大型化，并且测定时间变长。

发明内容

因此，本发明是为了解决上述的课题而完成的，其目的在于，提供能够提高包含杂质等第二物质在内的第一物质的检测精度并且缩短测定时间而不会使装置大型化的质量分析装置和质量分析方法。

为了达成上述的目的，本发明的质量分析装置对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与所述第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置具有峰校正部，当设各所述第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与所述第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与所述第一物质的所述峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部从所述试样中的所述第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算所述第一物质的质谱的净峰 D的强度。

根据该质量分析装置，根据第二物质中的不与第一物质的质谱的峰重叠的峰A 的强度来消除质谱的峰与第一物质的质谱的峰重叠的第二物质的影响，因此能够精度良好地求取第一物质的质谱的净峰D的强度。

此时，例如与使用色谱仪等将第一物质与第二物质分离以消除第二物质的影响的情况相比，不会使装置大型化，也能够缩短测定时间。

在本发明的质量分析装置中，也可以是，存在两种以上的所述第二物质，所述峰校正部从所述峰C的强度减去针对各所述第二物质的W×(峰A的强度)的总和。

根据该质量分析装置，即使存在两个以上的第二物质，也能够精度良好地消除其影响。