[发明专利]液晶滴下量安全范围下限的确定方法

权利要求书

1.一种液晶滴下量安全范围下限的确定方法，其特征在于，包括：

利用非线性静力学分析模型，建立液晶盒的几何模型，所述液晶盒不包括液晶，所述建立液晶盒的几何模型的步骤包括：建立隔垫物的几何模型，包括输入主隔垫物的上底尺寸、下底尺寸、高度、上底曲率、弹性模量，输入辅隔垫物的上底尺寸、下底尺寸、高度、上底曲率、弹性模量，以及计算所述主隔垫物、所述辅隔垫物在单个隔垫物周期单元内的面积占比；

将液晶盒的几何模型置于标准大气压下；

通过静力学分析，计算标准大气压下，隔垫物不能被继续压缩，液晶支撑力为零时，隔垫物支撑力与基板受到外部的大气压力平衡，液晶盒受压不再发生形变后的上基板、下基板之间间距；

计算液晶盒受压不再发生形变时液晶盒内的容纳空间的体积，即为液晶滴下量安全范围下限。

2.根据权利要求1所述的液晶滴下量安全范围下限的确定方法，其特征在于，所述主隔垫物在单个隔垫物周期单元内的面积占比为M_PS：

M_PS＝(πR_上²+πR_下²)*α²*1/2*N/(W*L)*T；

其中，R_上、R_下分别为主隔垫物的上底和下底的半径，α为主隔垫物的上底曲率，N为单个隔垫物周期单元内的主隔垫物的颗数，W为每个子像素的宽度，L为每个子像素的长度，T为单个隔垫物周期单元内的子像素的数量。

3.根据权利要求1所述的液晶滴下量安全范围下限的确定方法，其特征在于，所述辅隔垫物在单个隔垫物周期单元内的面积占比为S_PS：

S_PS＝(πr_上²+πr_下²)*β²*1/2*t/(W*L)*T；

其中，r_上、r_下分别为辅隔垫物的上底和下底的半径，β为辅隔垫物的上底曲率，t为单个隔垫物周期单元内的辅隔垫物的颗数，W为每个子像素的宽度，L为每个子像素的长度，T为单个隔垫物周期单元内的子像素的数量。

4.根据权利要求3所述的液晶滴下量安全范围下限的确定方法，其特征在于，所述液晶滴下量安全范围下限为Q：

Q＝0.058+25.307×M_PS-0.575×S_PS-0.266×h+0.014×E+(M_PS-0.00018)²×1118266.936+(M_PS-0.00018)×(S_PS-0.006)×312.5+(S_PS-0.006)²×940.203+(M_PS-0.00018)×(h-0.4)×187.5+(S_PS-0.006)×(h-0.4)×1.063+(h-0.4)²×0.317+(M_PS-0.00018)×(E-1.726)×7.561+(S_PS-0.006)×(E-1.726)×0.169+(h-0.4)×(E-1.726)×0.012+(E-1.726)²×0.001；

其中，h为所述主隔垫物与所述辅隔垫物的高度差，E为所述主隔垫物与所述辅隔垫物的弹性模量。

5.根据权利要求4所述的液晶滴下量安全范围下限的确定方法，其特征在于，还包括：

选定修正模型：Q＝aQ₀+δ，其中，a、δ分别为修正系数和修正常量，Q₀为利用液晶盒的几何模型计算得出的所述液晶滴下量安全范围下限；

选取两组实际的液晶滴下量安全范围下限和计算得出的所述液晶滴下量安全范围下限，带入上述修正模型，计算出所述修正系数a和修正常量δ，按照所述修正模型计算得出的数值即为修正后的液晶滴下量安全范围下限的修正值。