[发明专利]一种半导体激光器脉冲驱动测试方法

权利要求书

1.一种半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

a)在T1时间段内半导体激光器老化测试仪自0时刻起向激光器输出N个等频率的脉冲信号，T1时间段每个脉冲信号的输出时的时间为X_n，各个脉冲信号的峰值电流强度Y₁至Y_n按公式Y_n＝k₁＜X_n＞*A所计算的函数变化，式中k₁为斜率，当X_n-[X_n]＞D时A＝0，当X_n-[X_n]＜D时A＝1，D为占空比，其取值为0.1-0.99，[X_n]为取整函数，其取值为不大于X_n的最大整数，＜X_n＞为向上取整函数；

b)在T1时间段后的T2时间段内半导体激光器老化测试仪以相同的峰值电流向激光器输出M个等峰值电流强度的脉冲信号，各个脉冲信号的脉冲信号的频率F(X₁)至F(X_n)按公式F(X_n)＝k₂＜X_m＞*A所计算的函数变化，式中k₂为斜率，X_m为T2时间段每个脉冲信号的输出时的时间，＜X_m＞为向上取整函数；

c)在T2时间段后的T3时间段内半导体激光器老化测试仪以相同的峰值电流及相同的频率输出P个脉冲信号。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤a)中k₁其取值为1≤k₁≤3，单位为Hz/s。

3.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤a)中X_n≤3×P_额定，P_额定为半导体激光器的额定功率。

4.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤b)中1≤k₂≤3，k₂单位为Hz/s。

5.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤b)中F(X_n)小于等于激光器在高频脉冲电流下的失效临界点。

6.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤c)中峰值电流小于等于步骤a)中最大的峰值电流强度，步骤c)中频率小于等于步骤b)中最大的脉冲信号频率。