[发明专利]确定永磁体最佳削角位置的方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种确定永磁体最佳削角位置的方法，其特征在于，包括：

采用预设削角方式对永磁体进行削角，得到多组削角尺寸；

通过有限元算法对各组所述削角尺寸进行仿真分析，得到多组数据样本；其中，每组数据样本包括所述削角尺寸及与其对应的齿槽转矩值；

采用响应面法对各个所述数据样本进行拟合分析，得到削角尺寸与齿槽转矩值相关的齿槽转矩函数关系；

将所述齿槽转矩函数关系作为目标函数，并采用最优解算法对所述目标函数进行寻优求解，得到最优削角尺寸。

2.根据权利要求1所述的确定永磁体最佳削角位置的方法，其特征在于，所述采用最优解算法对所述目标函数进行寻优求解，得到最优削角尺寸的过程为：

通过纵横交叉算法依据预设参数对所述目标函数进行寻优求解，得到最优削角尺寸。

3.根据权利要求2所述的确定永磁体最佳削角位置的方法，其特征在于，所述预设参数包括种群数量、纵向交叉率以及最大进化代数。

4.根据权利要求2所述的确定永磁体最佳削角位置的方法，其特征在于，所述采用响应面法对各个所述数据样本进行拟合分析的过程为：

采用中心复合实验设计法对各个所述数据样本进行拟合分析。

5.根据权利要求4所述的确定永磁体最佳削角位置的方法，其特征在于，所述预设削角方式为边缘削角。

6.一种确定永磁体最佳削角位置的装置，其特征在于，包括：

削角模块，用于采用预设削角方式对永磁体进行削角，得到多组削角尺寸；

有限元仿真模块，用于通过有限元算法对各组所述削角尺寸进行仿真分析，得到多组数据样本；其中，每组数据样本包括所述削角尺寸及与其对应的齿槽转矩值；

响应面模块，用于采用响应面法对各个所述数据样本进行拟合分析，得到削角尺寸与齿槽转矩值相关的齿槽转矩函数关系；

寻优模块，用于将所述齿槽转矩函数关系作为目标函数，并采用最优解算法对所述目标函数进行寻优求解，得到最优削角尺寸。

7.根据权利要求6所述的确定永磁体最佳削角位置的装置，其特征在于，所述寻优模块，具体用于将所述齿槽转矩函数关系作为目标函数，并通过纵横交叉算法依据预设参数对所述目标函数进行寻优求解，得到最优削角尺寸。

8.根据权利要求7所述的确定永磁体最佳削角位置的装置，其特征在于，所述响应面模块，具体用于采用中心复合实验设计法对各个所述数据样本进行拟合分析，得到削角尺寸与齿槽转矩值相关的齿槽转矩函数关系。

9.一种确定永磁体最佳削角位置的设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任意一项所述确定永磁体最佳削角位置方法的步骤。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任意一项所述确定永磁体最佳削角位置的方法的步骤。