[发明专利]一种氟化碲化锗二维材料的制备方法有效

专利信息
申请号: 201810858883.8 申请日: 2018-07-31
公开(公告)号: CN110775947B 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 封伟;张鑫;赵付来;王宇;冯奕钰;李瑀 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: C01B19/00 分类号: C01B19/00
代理公司: 天津创智睿诚知识产权代理有限公司 12251 代理人: 李薇
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 氟化 碲化锗 二维 材料 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,按照下述步骤进行:按照等摩尔比将Ge、Te两种金属进行真空封装和处理,由20—25摄氏度在350—450min内升至1000—1100℃并维持1000—1200min再以0.5—3℃/min降温至20—25摄氏度,以得到GeTe晶体;将GeTe晶体冲洗除杂干燥后,置于氟气气氛中进行处理,由20—25摄氏度在200—300min内升至200—400℃并保温20—60小时,再以0.5—3℃/min降温至20—25摄氏度,得到氟化碲化锗二维材料GeTe-F,使用四氟胶带反复粘撕,得到二维层状半导体材料GeTe-F。

2.根据权利要求1所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,将Ge、Te两种金属进行真空封装和处理时,真空度达到0.1MPa以下,并保持惰性保护气体气氛。

3.根据权利要求2所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,惰性保护气体气氛为氮气、氦气或者氩气。

4.根据权利要求1所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,选择CVD管式炉进行程序温控。

5.根据权利要求1所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,将Ge、Te两种金属进行真空封装和处理时,由20—25摄氏度在380—400min内升至1000—1050℃并维持1100—1200min再以0.5—1℃/min降温至20—25摄氏度。

6.根据权利要求1所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,将GeTe晶体冲洗除杂干燥后,置于氟气气氛中进行处理时,真空度为50—100bar。

7.根据权利要求6所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,真空度为60—80bar。

8.根据权利要求1所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,选择向CVD管式炉中惰性保护气体气氛中通入氟气的方式,并同时维持真空度,以使CVD管式炉中达到氟气气氛,再将GeTe晶体置于CVD管式炉的氟气气氛中。

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