[发明专利]二维MS/MS采集模式有效

专利信息
申请号: 201810863095.8 申请日: 2015-06-11
公开(公告)号: CN108735571B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 詹森·李·维尔德古斯 申请(专利权)人: 英国质谱公司
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 宋融冰
地址: 英国威*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 二维 ms 采集 模式
【权利要求书】:

1.一种质谱方法,包括:

将前体离子质量选择性地传输到碎裂或反应装置中,其中所传输的前体离子的质荷比作为时间的函数变化;

在所述碎裂或反应装置中碎裂或反应所述前体离子,以便产生碎片或产物离子;

在多个连续的时间间隔周期性地质量分析所述碎片或产物离子;

其中对于多个不同类型的碎片或产物离子中的每一个,对在开始时间T0与第一时间T1之间出现的第一多个连续时间间隔中获得的光谱数据的强度求和,以便确定与第一时间T1相关联的每个碎片或产物离子的第一总和强度;

其中对于不同类型的碎片或产物离子中的每一个,对在第一时间T1与第二稍后时间T2之间出现的第二多个连续时间间隔中获得的光谱数据的强度求和,以便确定与第二时间T2相关联的每个碎片或产物离子的第二总和强度;

其中对于不同类型的碎片或产物离子中的每一个,对在第二时间T2与第三稍后时间T3之间出现的第三多个连续时间间隔中获得的光谱数据的强度求和,以便确定与第三时间T3相关联的每个碎片或产物离子的第三总和强度;

确定每个所述不同碎片或产物离子的峰,包括至少第一、第二和第三总和强度,所述第一、第二和第三总和强度作为它们相关联的第一T1、第二T2和第三T3时间的函数表示;

确定每个峰的平均或质心时间值,其表示所述碎片或产物离子被认为已经被分析的平均或质心时间;并且

使用每个碎片或产物离子的平均或质心时间来识别其相应的前体离子。

2.根据权利要求1所述的方法,其中使用第一所述不同碎片或产物离子的平均或质心时间来确定其前体离子被传输到所述碎裂或反应装置中的时间,并且其中其前体离子被传输的时间被用来确定所述前体离子的质荷比;和/或

其中使用第二所述不同碎片或产物离子的平均或质心时间来确定其前体离子被传输到所述碎裂或反应装置中的时间,并且其中其前体离子被传输的时间被用来确定所述前体离子的质荷比。

3.根据权利要求1所述的方法,其中在多个第一连续时间间隔期间对第一所述不同碎片或产物离子进行质量分析,其中在多个第二连续时间间隔期间对第二个所述不同碎片或产物离子进行质量分析,并且其中所述第一和第二连续时间间隔部分重叠,使得所述第一和第二连续时间间隔中的仅一些时间间隔是相同的时间间隔,并且所述第一和第二连续时间间隔中的一些时间间隔是非重叠时间间隔;和任选地;

其中在所述开始时间T0与所述第一时间T1之间出现的所述第一多个连续时间间隔包括至少一些所述相同时间间隔和至少一些所述非重叠时间间隔;和/或

其中在所述第一时间T1与所述第二时间T2之间出现的所述第二多个连续时间间隔包括至少一些所述相同时间间隔和/或至少一些所述非重叠时间间隔;和/或

其中在所述第二时间T2与所述第三时间T3之间出现的所述第三多个连续时间间隔包括至少一些所述相同时间间隔和/或至少一些所述非重叠时间间隔。

4.根据权利要求2所述的方法,其中在多个第一连续时间间隔期间对第一所述不同碎片或产物离子进行质量分析,其中在多个第二连续时间间隔期间对第二个所述不同碎片或产物离子进行质量分析,并且其中所述第一和第二连续时间间隔部分重叠,使得所述第一和第二连续时间间隔中的仅一些时间间隔是相同的时间间隔,并且所述第一和第二连续时间间隔中的一些时间间隔是非重叠时间间隔;和任选地;

其中在所述开始时间T0与所述第一时间T1之间出现的所述第一多个连续时间间隔包括至少一些所述相同时间间隔和至少一些所述非重叠时间间隔;和/或

其中在所述第一时间T1与所述第二时间T2之间出现的所述第二多个连续时间间隔包括至少一些所述相同时间间隔和/或至少一些所述非重叠时间间隔;和/或

其中在所述第二时间T2与所述第三时间T3之间出现的所述第三多个连续时间间隔包括至少一些所述相同时间间隔和/或至少一些所述非重叠时间间隔。

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