[发明专利]测试探针和使用其的测试装置有效
申请号: | 201810876569.2 | 申请日: | 2018-08-03 |
公开(公告)号: | CN109387673B | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 朴雄纪 | 申请(专利权)人: | 李诺工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马爽;臧建明 |
地址: | 韩国釜山市江西*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 探针 使用 装置 | ||
1.一种测试探针,用于测试物件的电气特性,所述测试探针包括:
第一接触部分;
第二接触部分,位在所述第一接触部分的相对侧;以及
弹性变形部分,使所述第一接触部分与所述第二接触部分连接且在所述测试探针的轴线方向上被压缩时弹性地变形,
其中所述第一接触部分或所述第二接触部分包括由在纵向方向上形成的第一狭缝分离的多个分离接触部分,且
其中所述弹性变形部分包括由在所述纵向方向上形成的第二狭缝分离的多个分离变形部分,所述第二狭缝从所述第一狭缝延伸且与所述第一狭缝连接。
2.根据权利要求1所述的测试探针,其中所述多个分离接触部分各自包括设置为接合彼此的接合部分。
3.根据权利要求1所述的测试探针,其中所述多个分离变形部分中的至少一个包括沿所述纵向方向形成的第三狭缝。
4.一种测试装置,用于测试待测试物件的电气特性,所述测试装置包括:
第一支撑构件,包括多个端子孔;
第二支撑构件,包括多个导孔并且与所述第一支撑构件间隔开且平行布置;以及
多个测试探针,各自包括插入并支撑在所述端子孔中的第一接触部分,插入在所述导孔中且位在所述第一接触部分的相对侧的第二接触部分,以及使所述第一接触部分与所述第二接触部分连接且在所述测试探针的轴线方向上受压缩时而弹性地变形的弹性变形部分,其中所述第一接触部分或所述第二接触部分包括由在纵向方向上形成的第一狭缝分离的多个分离接触部分,
其中所述弹性变形部分包括由在所述纵向方向上形成的第二狭缝分离的多个分离变形部分,所述第二狭缝从所述第一狭缝延伸且与所述第一狭缝连接。
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