[发明专利]样品中氚的BIXS方法分析装置

说明书

本发明公开了一种样品中氚的BIXS方法分析装置，其包括操作台、真空筒、导轨、探测器安装座、X射线探测器、样品台、电阻真空计、薄膜气压计；所述真空筒位于操作台上方，所述导轨设置在操作台上方并且位于真空筒内，所述探测器安装座滑动设置在导轨上，所述X射线探测器设置在探测器安装座上，所述样品台设置在操作台上方并且位于真空筒内以及X射线探测器下侧，所述电阻真空计、薄膜气压计分别设置在真空筒的两侧并且延伸至真空筒内。本发明充分利用了β射线与物质相互作用的特点，结构简单、体积小、价格便宜、检测速度快、灵敏度高、且支持在真空及充氩气两种不同情况下进行实验；具有对样品分析无损的特点，且操作简单，对实验人员无伤害的优势；分别选用真空及充氩气两种方法实现对样品的分析；所占空间小，易于移动，对于有氚分析需求的各高校及相关科研单位是一个很理想的选择。

技术领域

本发明属于氚的检测及分析技术领域，具体涉及一种样品中氚的BIXS方法分析装置。

背景技术

金属中氚的分析方法主要分为有损分析方法和无损分析方法。

1、有损分析方法：它是基于金属在酸性溶液中溶解的蚀刻原理，这种方法常常需要繁重的工作且会对人体造成化学或者放射性危害。

2、无损分析方法：它的原理是利用氚衰变放出的β射线与物质的相互作用的特征从而反推得到含氚样品中氚含量及深度分布信息。日本学者Matsuyama在1998年提出采用氚β衰变诱发X射线谱技术(BIXS技术)来分析含氚材料中氚含量及其深度分布。当时他们提出用Ar气作为β射线阻挡层来获取表面氚的信息。但其有两个缺陷：首先探测器与样品的距离不能调节过大，若材料中的含氚量高，则会造成探测器的死时间增大，并产生信号堆积；另一方面，β射线与气体靶物质发生相互作用会产生极化韧致辐射，但由于对极化韧致辐射的研究还不成熟，所以在数据处理的时候，还不能考虑极化韧致辐射的作用，因此，使用Ar气作为阻挡层可能会影响数据的准确分析。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种样品中氚的BIXS方法分析装置。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

本发明实施例提供一种样品中氚的BIXS方法分析装置，其包括操作台、真空筒、导轨、探测器安装座、X射线探测器、样品台、电阻真空计、薄膜气压计；所述真空筒位于操作台上方，所述导轨设置在操作台上方并且位于真空筒内，所述探测器安装座滑动设置在导轨上，所述X射线探测器设置在探测器安装座上，所述样品台设置在操作台上方并且位于真空筒内以及X射线探测器下侧，所述电阻真空计、薄膜气压计分别设置在真空筒的两侧并且延伸至真空筒内。

上述方案中，所述真空筒包括真空室筒、真空盖板、真空室门，所述真空盖板盖设在真空室筒的顶部，所述真空室筒的一侧设置真空室门。

上述方案中，还包括高度调节杆，所述高度调节杆的一端设置在操作台上，另一端与样品台连接。

上述方案中，还包括两个放气阀，所述两个放气阀分别将真空筒与大气、氩气通过管路连通。

上述方案中，还包括机械泵、高真空手动挡板阀，所述机械泵经高真空手动挡板阀与真空筒内连通。

与现有技术相比，本发明的有益效果：

本发明充分利用了β射线与物质相互作用的特点，结构简单、体积小、价格便宜、检测速度快、灵敏度高、且支持在真空及充氩气两种不同情况下进行实验；具有对样品分析无损的特点，且操作简单，对实验人员无伤害的优势；分别选用真空及充氩气两种方法实现对样品的分析；所占空间小，易于移动，对于有氚分析需求的各高校及相关科研单位是一个很理想的选择。

附图说明

图1为本发明实施例提供一种样品中氚的BIXS方法分析装置的结构示意图。

具体实施方式