[发明专利]一种基于介质集成波导的可调互调校准源

说明书

本发明公开了一种基于介质集成波导的可调互调校准源，介质集成波导段、波导转换段及输入端均位于介质层上，且波导转换段与输入端及介质集成波导段相连接，介质集成波导段的上表面上设置有环形开槽，非线性偶极子双臂位于介质集成波导段的上表面上，且非线性偶极子双臂位于所述环形开槽内，非线性偶极子双臂上设置有极化开槽，二极管连接于极化开槽的两端，射频信号源通过输入端及波导转换段与介质集成波导段的一端相连接，吸收负载与介质集成波导段的另一端相连接，介质层内部设置有腔体，该可调互调校准源能够实现全测试范围内PIM测试仪器的校准。

技术领域

本发明涉及一种可调互调校准源，具体涉及一种基于介质集成波导的可调互调校准源。

背景技术

由于无源互调(Passive intermodulation,PIM)机理研究复杂，微观接触的分析存在很大不确定性，这使得PIM的定量化主要依赖于实验测试。PIM测试作为一种典型的射频测试方法，如何提高其测试准确度是一个热门课题。准确的PIM测试需要精密的射频模块来保障，与此同时一个良好的校准参考源也是保证测试准确度中不可或缺的重要部分。

目前常用的IEC62037测试标准对误差分析是基于数学方法，其给出的误差项是误差出现的最大值。而在实际的测试操作中，往往会出现测试结果虽然出现波动，但其真实误差却很少出现如数值估计中的最大误差上下限。这种情况使得实际的测试结果本身往往具备一定准确度而根据数值误差估计该结果又不确信的情况常常出现，使得PIM测试的准确度和置信度大大下降。也即使过多测试误差余度被浪费，也降低了测试准确度也降低了测试效率。针对该种情况，目前已经涌现出一些使用定值的PIM参考源去评估测试仪器的准确性的方案，但这些定值的参考源对超过其PIM区间的测试水平往往存在极大的误差，这也使得PIM测试参考成为一个热门问题。

作为定值参考源校准方法的主要改进措施，动态的互调参考技术的出现使得无源互调的测试趋向于更为稳定和精确的方向发展，但总体而言，在目前公开的动态互调参考技术中，其能提供的互调动态参考幅度有限。而对具有潜在非线性失真的器件，其PIM幅值往往也具有较大的波动性，这使得对全测试范围内的PIM测试仪器校准成为提高PIM测试准确度的关键步骤。这种需求使得开发具有极高动态余度的PIM校准源成为亟需解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供了一种基于介质集成波导的可调互调校准源，该可调互调校准源能够实现全测试范围内PIM测试仪器的校准。

为达到上述目的，本发明所述的基于介质集成波导的可调互调校准源包括介质集成波导段、波导转换段、输入端、介质层、非线性偶极子双臂、二极管、射频信号源及吸收负载；

介质集成波导段、波导转换段及输入端均位于介质层上，且波导转换段与输入端及介质集成波导段相连接，介质集成波导段的上表面上设置有环形开槽，非线性偶极子双臂位于介质集成波导段的上表面上，且非线性偶极子双臂位于所述环形开槽内，非线性偶极子双臂上设置有极化开槽，二极管连接于极化开槽的两端，射频信号源通过输入端及波导转换段与介质集成波导段的一端相连接，吸收负载与介质集成波导段的另一端相连接，介质层内部设置有腔体。

介质集成波导段的端部覆盖有绝缘隔离层，铜箔扣合于绝缘隔离层的外侧，且铜箔与介质集成波导段之间使用焊锡焊接。

极化开槽与载波方向平行，二极管竖直焊接于极化开槽的两端。

输入端具有50欧姆阻抗。

射频信号源通过射频转接器与输入端相连接。

本发明具有以下有益效果：