[发明专利]显示面板测试方法及装置、电子设备

权利要求书

1.一种显示面板测试方法，其特征在于，包括：

获取在显示面板的辅助测试点处测得的公共电压-参考光学参数值曲线和时间-参考光学参数值曲线，以及，在显示面板的测试点处测得的电压-透过率曲线；其中，所述电压-透过率曲线和所述时间-参考光学参数值曲线是同时测得的，所述参考光学参数是能够反映电压偏移的光学参数；

根据所述时间-参考光学参数值曲线和所述公共电压-参考光学参数值曲线，得到时间-实际公共电压曲线；

根据所述电压-透过率曲线的测试电压与时间的关系，结合初始公共电压和所述时间-实际公共电压曲线，得到测试电压-电压偏移量曲线；

根据所述测试电压-电压偏移量曲线，修正所述电压-透过率曲线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

获取在初始公共电压下的所述辅助测试点处的初始参考光学参数值；

比对所述时间-参考光学参数值曲线与所述初始参考光学参数值，确定实际参考光学参数值是否随时间变化；

若所述实际参考光学参数值不随时间变化，则根据所述公共电压-参考光学参数值曲线确定实际公共电压，并根据实际公共电压和所述初始公共电压确定电压偏移量；

若所述实际参考光学参数值随时间变化，则根据所述时间-参考光学参数值曲线和所述公共电压-参考光学参数值曲线，得到时间-实际公共电压曲线；并且，根据测试电压与时间的关系，结合初始公共电压和所述时间-实际公共电压曲线，得到测试电压-电压偏移量曲线。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试电压-电压偏移量曲线是通过拟合方式得到的。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考光学参数为闪烁或亮度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述辅助测试点为两个以上；所述方法还包括：

获取针对不同辅助测试点而分别测得的测试电压-电压偏移量曲线；

采用取均值或正态分布的方式处理所述测试电压-电压偏移量曲线，得到修正后的测试电压-电压偏移量曲线；

根据所述修正后的测试电压-电压偏移量曲线，修正所述电压-透过率曲线。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

根据修正后的电压-透过率曲线，得到正负电压的对称中心线；

根据测试电压与时间的关系，结合所述时间-实际公共电压曲线，得到测试电压与实际公共电压的关系；

根据所述正负电压的对称中心线以及所述测试电压与实际公共电压的关系，结合所述修正后的电压-透过率曲线，得到跳变电压-透过率曲线。

7.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

获取关键透过率对应的正负电压的对称中心；

根据所述正负电压的对称中心，结合所述时间-实际公共电压曲线，得到跳变电压；

根据所述关键透过率及其对应的跳变电压，拟合得到跳变电压-透过率曲线。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述关键透过率包括：0.4％、1.2％、4％、10％、20％、35％、53％、74％、90％。

9.一种显示面板测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取在显示面板的辅助测试点处测得的公共电压-参考光学参数值曲线和时间-参考光学参数值曲线，以及，在显示面板的测试点处测得的电压-透过率曲线；其中，所述电压-透过率曲线和所述时间-参考光学参数值曲线是同时测得的，所述参考光学参数是能够反映电压偏移的光学参数；

处理模块，用于根据所述时间-参考光学参数值曲线和所述公共电压-参考光学参数值曲线，得到时间-实际公共电压曲线；根据所述电压-透过率曲线的测试电压与时间的关系，结合初始公共电压和所述时间-实际公共电压曲线，得到测试电压-电压偏移量曲线；以及，根据所述测试电压-电压偏移量曲线，修正所述电压-透过率曲线。

10.一种电子设备，包括：

至少一个处理器；以及，

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1-8任意一项所述的方法。