[发明专利]显示面板测试方法及装置、电子设备

说明书

本发明公开了一种显示面板测试方法及装置、电子设备，包括：获取在显示面板的辅助测试点处测得的公共电压‑参考光学参数值曲线和时间‑参考光学参数值曲线，以及，在显示面板的测试点处测得的电压‑透过率曲线；根据时间‑参考光学参数值曲线和公共电压‑参考光学参数值曲线，得到时间‑实际公共电压曲线；根据电压‑透过率曲线的测试电压与时间的关系，结合初始公共电压和时间‑实际公共电压曲线，得到测试电压‑电压偏移量曲线；根据测试电压‑电压偏移量曲线，修正电压‑透过率曲线。本发明提出的显示面板测试方法及装置、电子设备，能够得到较为准确的VT曲线。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是指一种显示面板测试方法及装置、电子设备。

背景技术

目前平板显示器中的主流之一是液晶显示(LCD)面板，具有体积小、功耗低、无辐射、制造成本低等优点。在LCD生产制造过程中比较重要的测试手法就是面板的电压-透过率(VT)曲线。

但是，在产品操作过程中或者测试过程中不可避免地引入大小和方向均未知的直流残留(DC)到样品中，造成测试数据和曲线有出现偏移(Shift)的现象，这样，由于DC的存在，实际测试VT曲线相对于理想曲线出现Shift，常规的测试手法难以得到DC的大小和变化。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的之一在于，提出一种显示面板测试方法及装置、电子设备，能够得到较为准确的VT曲线。

基于上述目的，本发明实施例的第一个方面，提供了一种显示面板测试方法，包括：

获取在显示面板的辅助测试点处测得的公共电压-参考光学参数值曲线和时间-参考光学参数值曲线，以及，在显示面板的测试点处测得的电压-透过率曲线；其中，所述电压-透过率曲线和所述时间-参考光学参数值曲线是同时测得的；

根据所述时间-参考光学参数值曲线和所述公共电压-参考光学参数值曲线，得到时间-实际公共电压曲线；

根据所述电压-透过率曲线的测试电压与时间的关系，结合初始公共电压和所述时间-实际公共电压曲线，得到测试电压-电压偏移量曲线；

根据所述测试电压-电压偏移量曲线，修正所述电压-透过率曲线。

可选的，所述方法还包括：

获取在初始公共电压下的所述辅助测试点处的初始参考光学参数值；

比对所述时间-参考光学参数值曲线与所述初始参考光学参数值，确定实际参考光学参数值是否随时间变化；

若所述实际参考光学参数值不随时间变化，则根据所述公共电压-参考光学参数值曲线确定实际公共电压，并根据实际公共电压和所述初始公共电压确定电压偏移量；

若所述实际参考光学参数值随时间变化，则根据所述时间-参考光学参数值曲线和所述公共电压-参考光学参数值曲线，得到时间-实际公共电压曲线；并且，根据测试电压与时间的关系，结合初始公共电压和所述时间-实际公共电压曲线，得到测试电压-电压偏移量曲线。

可选的，所述测试电压-电压偏移量曲线是通过拟合方式得到的。

可选的，所述参考光学参数为闪烁或亮度。

可选的，所述辅助测试点为两个以上；所述方法还包括：

获取针对不同辅助测试点而分别测得的测试电压-电压偏移量曲线；

采用取均值或正态分布的方式处理所述测试电压-电压偏移量曲线，得到修正后的测试电压-电压偏移量曲线；

根据所述修正后的测试电压-电压偏移量曲线，修正所述电压-透过率曲线。

可选的，所述方法还包括：