[发明专利]光谱分析的测量装置和在使用光谱分析的测量装置的情况下用于分析介质的方法

权利要求书

1. 光谱分析的测量装置（100），所述测量装置被设置用于检测固体和流体的、光谱分析的数据，所述测量装置包括接收装置（102），所述接收装置被设置用于接收待研究的介质（104‘），其中，微型分光仪（101）被设置用于检测所述介质（104‘）的、光谱分析的数据，其中，所述微型分光仪（101）

- 包括照射单元（1010），所述照射单元被设置用于，以电磁辐射（1010‘）来辐射所述介质（104‘），并且

- 包括检测单元（1011），所述检测单元被设置用于，检测所述电磁辐射（1010‘）的、来自所述介质（104‘）的方向的辐射份额（1011“），

其特征在于，

- 将所述微型分光仪（101）布置在所述接收装置（102）的第一侧（1021）处，所述微型分光仪包括所述照射单元（1010）和所述检测单元（1011），并且，

- 将射束偏转装置（103）布置在所述接收装置（102）的、与所述第一侧（1021）对置的第二侧（1022）处，所述射束偏转装置被设置用于，将来自所述照射单元（1010）的所述电磁辐射（1010‘）的至少一部分（1011‘）偏转到检测单元（1011）的方向上。

2.根据权利要求1所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，所述接收装置（102）包括保持结构（102‘），所述保持结构具有开口（102“）。

3.根据权利要求2所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，所述光谱分析的测量装置（100）包括所述微型分光仪（101），并且，将所述微型分光仪（101）集成到所述保持结构（102‘）中。

4.根据权利要求2所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，所述保持结构（102‘）具有定位设备（107），所述定位设备被设置用于，将所述微型分光仪（101）定位在所述接收装置（102）的所述第一侧（1021）处。

5.根据前述权利要求中任一项所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，所述介质（104‘）包括在容器（104“）中的固体或者在容器（104“）中的流体，并且，所述开口（102“）被设置用于，在所述第一侧（1021）和所述第二侧（1022）之间的、所述微型分光仪（101）的辐射路径中接收所述容器（104“）。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，所述开口（102“）的尺寸是能够适配的。

7.根据权利要求6所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，在所述保持结构（104‘）的、面向所述开口（102“）的面（1024）上至少区段地布置有薄片状结构（109），其中，所述开口（102“）的所述尺寸取决于所述薄片状结构（109）的调节。

8.根据权利要求7所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，所述光谱分析的测量装置（100）包括步进马达，所述步进马达被设置用于，调节所述薄片状结构（109）。

9.根据前述权利要求中任一项所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，所述射束偏转装置（103）包括能够适配的镜面层。

10.根据前述权利要求中任一项所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，在所述照射单元（1010）和所述接收装置（102）之间的辐射路径中布置有或者能够布置有扩散器（1091）。

11.根据前述权利要求中任一项所述的光谱分析的测量装置（100），其特征在于，在所述接收装置（102）和所述检测单元（1011）之间的辐射路径中布置有或者能够布置有光学成像元件（1092）。