[发明专利]光谱分析的测量装置和在使用光谱分析的测量装置的情况下用于分析介质的方法

说明书

光谱分析的测量装置，测量装置被设置用于检测固体和流体的、光谱分析的数据，测量装置包括接收装置，接收装置被设置用于接收待研究的介质，其中，微型分光仪被设置用于检测介质的、光谱分析的数据，其中，微型分光仪‑包括照射单元，照射单元被设置用于，以电磁辐射来辐射介质，并且‑包括检测单元，检测单元被设置用于，检测电磁辐射的、来自介质的方向的辐射份额，其中，‑将微型分光仪布置在接收装置的第一侧处，微型分光仪包括照射单元和检测单元，并且，‑将射束偏转装置布置在接收装置的、与第一侧对置的第二侧处，射束偏转装置被设置用于，将来自照射单元的电磁辐射的至少一部分偏转到检测单元的方向上。

技术领域

本发明涉及一种光谱分析的测量装置、一种在使用光谱分析的测量装置的情况下用于分析介质的方法和一种计算机程序产品。

背景技术

在US 5909280 A中描述了一种微分光仪，所述微分光仪包括整体集成的光源和整体集成的检测器。微分光仪被作用传感器系统的一部分，所述传感器系统适用于研究固体和液体。微分光仪包括作为光谱元件的法布里-珀罗干涉仪和腔室，待研究的介质能够经由通道进入到所述腔室中。光源和检测器被布置在腔室的、对置的侧上。

发明内容

介质的光谱信息能够从来自介质的电磁辐射中（例如从由介质发射、反射、透射（transmittiert）和/或散射的电磁辐射中）获得，通过由分光仪接收并且评估这些电磁辐射的方式。在此，光谱元件（例如，光栅分光仪、法布里-珀罗干涉仪、透射滤波器（Transmissionsfilter）/线性可变滤波器或者傅立叶-变换分光仪）能够被布置在光源和待研究的介质之间，和/或，在介质和检测器之间。为了检测待研究的介质的、光谱分析的数据，能够执行透射测量（Transmissionsmessung）或者反射测量。在透射测量时，电磁辐射由待研究的介质透射，其中，所透射的电磁辐射具有关于介质的光谱信息。所透射的电磁辐射能够波长选择性地被检测，并且，提供关于介质的光谱成分的启示。在反射测量时，电磁辐射由待研究的介质反射，其中，所反射的电磁辐射具有关于介质的光谱信息。所反射的电磁辐射能够波长选择性地被检测，并且，提供关于介质的光谱成分的启示。

流体（即，液体、气体以及液体和气体的混合物）仅部分地反射入射到流体上的电磁辐射的较小的部分，并且入射到流体上的电磁辐射的较大部分由流体透射。

具有独立权利要求的特征的本发明的优点是：为了检测光谱分析的数据，能够借助具有权利要求1的特征的、光谱分析的测量装置来执行透射测量和反射测量，并且，因此能够以高的信号强度并且因此以高的精度以及可靠性来检测固体和流体的光谱数据/信息。由此，能够提高对介质的光谱分析的结果的可靠性，并且，能够扩展光谱分析的测量装置的应用可能性。