[发明专利]一种扩展测试通道的方法和电路

权利要求书

1.一种扩展测试通道的方法，其特征在于，使用所用锁存器控制多个模拟开关芯片将读卡芯片发出的13.56M的RF信号扩展为多路13.56M的RF信号，驱动天线线圈，与非接触卡片传输数据，进行测试，主要步骤为：

步骤一、MCU将控制信号传送给锁存器，来控制其中一个或几个锁存器的输出信号；

步骤二、锁存器的输出信号传送给模拟开关芯片，使相应的模拟开关芯片处于的导通或关断状态；

步骤三、处于关断状态的模拟开关芯片所在的通道，读卡芯片发出的13.56M的RF信号不能通过模拟开关芯片，无法传送到其所对应的天线线圈上，其位置对应的卡片不进行测试；

步骤四、处于导通状态的模拟开关芯片所在的通道，读卡芯片发出的13.56M的RF信号经过匹配电路和补偿电路后，可以通过模拟开关芯片，传送到其所对应的天线线圈上，对其位置对应的卡片进行测试。

2.一种扩展测试通道的电路，用于实施权利要求1所述方法，其特征在于，主要包括读卡芯片、锁存器、模拟开关芯片、匹配和补偿电路、以及天线线圈，其中锁存器的输出控制对应模拟开关的导通或关断，模拟开关芯片导通时，将读卡芯片发出的信号传送给天线线圈，进行对应位置的卡片的测试，当模拟开关芯片关断时，读卡芯片发出的信号不能传送给对应的天线线圈，对应位置的卡片也不响应。

3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述模拟开关芯片将读卡芯片输出的1路RF载波信号扩展为多路RF载波信号，扩展的个数与模拟开关芯片的个数有关。

4.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述匹配和补偿电路中元器件的参数与模拟开关芯片的个数及模拟开关芯片输入口和输出口的电气特性参数有关，可以估算并微调参数。

5.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述锁存器连接多个模拟开关，并控制模拟开关的导通或关断。