[发明专利]一种行星架轴孔位置度的检具及其检测方法

权利要求书

1.一种行星架轴孔位置度的检具，包括行星架(1)、行星架(1)的中心轴孔(2)和位于中心轴孔(2)外围的n个均布轴孔(3)，其特征在于：所述中心轴孔(2)内设有用于固定行星架的中心轴(4)，每个所述均布轴孔(3)内均设有用于检测均布轴孔(3)位置度的检棒(5)，所述中心轴(4)和检棒(5)中段外径均为圆锥面，两端外径均为圆柱面，其中n个检棒(5)的中段圆锥面的锥度相同，所述中心轴(4)中段外径小的一端的外径小于中心轴孔(2)的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；所述检棒(5)中段外径小的一端的外径小于均布轴孔(3)的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；所述锥度为1:5000-1:7000。

2.根据权利要求1所述的行星架轴孔位置度的检具，其特征在于：所述中心轴孔(2)长度≤100mm时，所述中心轴(4)中段外径的锥度为1:5000；所述中心轴孔(2)长度＞100mm时，所述中心轴(4)中段外径的锥度适当减小，在1:5000-1:7000范围内，并保持其伸出长度与各检棒(5)伸出长度一致。

3.根据权利要求1所述的行星架轴孔位置度的检具，其特征在于：所述均布轴孔(3)两端孔跨度≤100mm时，所述检棒(5)中段外径的锥度为1:5000；所述均布轴孔(3)两端孔跨度＞100mm时，所述检棒(5)中段外径的锥度适当减小，在1:5000-1:7000范围内，并保持各检棒(5)伸出长度与中心轴(4)伸出长度一致。

4.一种如权利要求1或2或3所述的行星架轴孔位置度的检具的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)顶起装置将中心轴(4)的两端顶起，使用外径千分尺直接测量出其中任一个检棒A(51)的轴线与中心基准轴线之间的距离e，转动行星架(1)，再使用外径千分尺直接测量出与检棒A(51)左右相邻的两个检棒B(52)、检棒C(53)分别为e值加减跳动从而计算得出其各自轴线与中心基准轴线之间的距离d、f；

2)用外径千分尺测量检棒A(51)、检棒B(52)、检棒C(53)中相邻两检棒外径圆柱面之间的距离S1、S2、S3，得出各检棒轴线之间的距离a、b、c；

3)利用余弦定理cosα＝(d²+e²-a²)/2de计算角度α，得出角度γ＝α-90°，利用tanγ＝X1/f，sinγ＝Y1/f计算X1、Y1，同理得出X2、Y2，其中α为检棒A(51)所在的均布轴孔(3)与检棒B(52)或检棒C(53)所在的均布轴孔(3)之间的夹角，X1、Y1和X2、Y2分别为检棒B(52)、检棒C(53)所处均布轴孔(3)相对于中心轴孔(2)的中心所在位置的坐标信息；

4)根据公式计算出位置度，其中x、y为理论值，利用上述计算出的X1、Y1、X2、Y2分别得到检棒B(52)、检棒C(53)所处均布轴孔(3)的位置度。

5.根据权利要求3所述的行星架轴孔位置度的检具的检测方法，其特征在于，所述步骤1)中使用的顶起装置为车床或径向跳动仪。

6.根据权利要求3所述的行星架轴孔位置度的检具的检测方法，其特征在于，所述步骤1)和2)测量时，检棒A(51)、检棒B(52)和检棒C(53)均与其各自所在的均布轴孔(3)无间隙紧密配合。