[发明专利]一种行星架轴孔位置度的检具及其检测方法

说明书

一种行星架轴孔位置度的检具，包括行星架、行星架的中心轴孔和位于中心轴孔外围的n个均布轴孔，中心轴孔内设有用于固定行星架的中心轴，每个均布轴孔内均设有用于检测均布轴孔位置度的检棒，中心轴和检棒中段外径均为圆锥面，两端外径均为圆柱面，其中n个检棒的中段圆锥面的锥度相同，中心轴中段外径小的一端的外径小于中心轴孔的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；检棒中段外径小的一端的外径小于均布轴孔的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；锥度为1：5000‑1：7000；本发明还包括了上述检具的检测方法。本发明结构简单，制造成本低；检测时间短，检测结果直观，不需要三坐标等复杂昂贵的检测设备，便于简化检测程序，利于提高检测效率。

技术领域

本发明涉及一种工装检具及其测量方法，具体涉及一种行星架轴孔位置度的检具及其检测方法。

背景技术

对于行星架而言，其行星轮轴孔的位置度是最关键的项点，对齿轮箱减速机的装配和使用极其重要。由于该位置度技术要求高，并且加工过程中影响此项点的因素较多，因此对该项点的检测频次也要求较高。在现有技术中，对该项点的常用检测设备是三坐标检测仪，三坐标检测仪设备昂贵，环境条件要求苛刻，检测过程中不仅需要专业的检测人员，而且检测过程耗时较长，不利于产品数量较大时的检测，尤其在大批量生产条件下检测效率更低。现有的行星架轴孔位置度的检具和检测方法还需进一步改进。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种行星架轴孔位置度的检具及其检测方法，它具有结构简单，制造成本低；检测时间短，检测结果直观等优点，不需要三坐标等复杂昂贵的检测设备，便于简化检测程序，利于提高检测效率。

为解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：一种行星架轴孔位置度的检具，包括行星架、行星架的中心轴孔和位于中心轴孔外围的n个均布轴孔，所述中心轴孔内设有用于固定行星架的中心轴，每个所述均布轴孔内均设有用于检测均布轴孔位置度的检棒，所述中心轴和检棒中段外径均为圆锥面，两端外径均为圆柱面，其中n个检棒的中段圆锥面的锥度相同，所述中心轴中段外径小的一端的外径小于中心轴孔的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；所述检棒中段外径小的一端的外径小于均布轴孔的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；所述锥度为1：5000-1：7000。

作为上述技术方案的进一步改进：所述中心轴孔长度≤100mm时，所述中心轴中段外径的锥度为1：5000；所述中心轴孔长度＞100mm时，所述中心轴中段外径的锥度适当减小，在1：5000-1：7000范围内，并保持其伸出长度与各检棒伸出长度一致。

进一步的，所述均布轴孔两端孔跨度≤100mm时，所述检棒中段外径的锥度为1：5000；所述均布轴孔两端孔跨度＞100mm时，所述检棒中段外径的锥度适当减小，在1：5000-1：7000范围内，并保持各检棒伸出长度与中心轴伸出长度一致。

一种行星架轴孔位置度的检具的检测方法，包括如下步骤：

1)顶起装置将中心轴的两端顶起，使用外径千分尺直接测量出其中任一个检棒A的轴线与中心基准轴线之间的距离e，转动行星架，再使用外径千分尺直接测量出与检棒A左右相邻的两个检棒B、检棒C分别为e值加减跳动从而计算得出其各自轴线与中心基准轴线之间的距离d、f；

2)用外径千分尺测量检棒A、检棒B、检棒C中相邻两检棒外径圆柱面之间的距离S1、S2、S3，得出各检棒轴线之间的距离a、b、c；

3)利用余弦定理cosα＝(d²+e²-a²)/2de计算角度α，得出角度γ＝α-90°，利用tanγ＝X1/f，sinγ＝Y1/f计算X1、Y1，同理得出X2、Y2，其中α为检棒A所在的均布轴孔与检棒B或检棒C所在的均布轴孔之间的夹角，X1、Y1和X2、Y2分别为检棒B、检棒C所处均布轴孔相对于中心轴孔的中心所在位置的坐标信息；