[发明专利]一种光源均匀性的检测方法及系统

权利要求书

1.一种光源均匀性的检测方法，其特征在于，包括：

步骤1：待测光源装置向投射平面上投射光斑，摄像装置向投射平面上采集光斑获取光斑图像；

步骤2：依据光斑亮度参数和/或光斑灰度参数，判断待测光源装置的均匀性是否合格。

2.根据权利要求1所述的光源均匀性的检测方法，其特征在于，步骤2包括：

步骤2.1A：在光斑图像中，计算出光斑质心；

步骤2.2A：以光斑质心为圆心，以相同视角差选取多个环形取值区域；

步骤2.3A：分析环形取值区域的区域亮度参数，若任一区域亮度参数与光斑亮度参数之间的差异过大，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

3.根据权利要求2所述的光源均匀性的检测方法，其特征在于，步骤2.3A包括：

步骤2.3A.1：计算出各个环形取值区域的区域平均亮度值，以及光斑平均亮度值；

步骤2.3A.2：将各个区域平均亮度值分别与光斑平均亮度值作比较，若任一区域平均亮度值与光斑平均亮度值之间的差值大于第一预设值，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

4.根据权利要求1-3中任一所述的光源均匀性的检测方法，其特征在于，步骤2还包括：

步骤2.1B：画出光斑灰度直方图；

步骤2.2B：分析光斑灰度直方图的倾斜度，若倾斜度较大，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

5.根据权利要求4所述的光源均匀性的检测方法，其特征在于，步骤2.2B包括：

步骤2.2B.1：计算出光斑灰度直方图的斜率曲线；

步骤2.2B.2：若斜率曲线的最大值大于第二预设值，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

6.一种光源均匀性的检测系统，其特征在于，包括：

投射平面，用于供待测光源装置投射光斑；

摄像装置，用于采集待测光源装置向投射平面投射的光斑获取光斑图像；

处理装置，用于对获取到的光斑图像进行处理分析，依据光斑亮度参数和/或光斑灰度参数，判断待测光源装置的均匀性是否合格，其输入端连接至所述摄像装置的输出端，以读取所述摄像装置获取的光斑图像。

7.根据权利要求6所述的光源均匀性的检测系统，其特征在于，所述处理装置在判断待测光源装置的均匀性是否合格时，进行如下步骤：

步骤1A：在光斑图像中，计算出光斑质心；

步骤2A：以光斑质心为圆心，以相同视角差选取多个环形取值区域；

步骤3A：分析环形取值区域的区域亮度参数，若任一区域亮度参数与光斑亮度参数之间的差异过大，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

8.根据权利要求7所述的光源均匀性的检测系统，其特征在于，所述处理装置在步骤3A中，进行如下步骤：

步骤3A.1：计算出各个环形取值区域的区域平均亮度值，以及光斑平均亮度值；

步骤3A.2：将各个区域平均亮度值分别与光斑平均亮度值作比较，若任一区域平均亮度值与光斑平均亮度值之间的差值大于第一预设值，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

9.根据权利要求6-8中任一所述的光源均匀性的检测系统，其特征在于，所述处理装置在判断待测光源装置的均匀性是否合格时，还进行如下步骤：

步骤1B：画出光斑灰度直方图；

步骤2B：分析光斑灰度直方图的倾斜度，若倾斜度较大，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

10.根据权利要求9所述的光源均匀性的检测系统，其特征在于，所述处理装置在步骤2B中，行如下步骤：

步骤2B.1：计算出光斑灰度直方图的斜率曲线；

步骤2B.2：若斜率曲线的最大值大于第二预设值，则判断待测光源装置的均匀性不合格。