[发明专利]一种光源均匀性的检测方法及系统

说明书

本发明公开了一种光源均匀性的检测方法及系统。该检测方法包括：步骤1：待测光源装置向投射平面上投射光斑，摄像装置向投射平面上采集光斑获取光斑图像；步骤2：依据光斑亮度参数和/或光斑灰度参数，判断待测光源装置的均匀性是否合格。该检测方法可以对光源装置的均匀性进行检测，以免均匀性不合格的光源装置影响到后续的摄像头模组的光学检测或调校。

技术领域

本发明涉及光源检测领域，尤其涉及一种光源均匀性的检测方法及系统。

背景技术

摄像头模组在出厂前需要对其各项光学性能进行检测或调校，在一些检测或调校项目中，需要用到光源装置来为摄像头模组提供光源，光学装置自身的均匀性会影响到摄像头模组的检测或调校结果，因此，有必要在对摄像头模组进行检测或调校前，先对光源装置的均匀性进行检测。

发明内容

为了解决上述现有技术的不足，本发明提供一种光源均匀性的检测方法及系统。该检测方法可以对光源装置的均匀性进行检测，以免均匀性不合格的光源装置影响到后续的摄像头模组的光学检测或调校。

本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：

一种光源均匀性的检测方法，包括：

步骤1：待测光源装置向投射平面上投射光斑，摄像装置向投射平面上采集光斑获取光斑图像；

步骤2：依据光斑亮度参数和/或光斑灰度参数，判断待测光源装置的均匀性是否合格。

进一步地，步骤2包括：

步骤2.1A：在光斑图像中，计算出光斑质心；

步骤2.2A：以光斑质心为圆心，以相同视角差选取多个环形取值区域；

步骤2.3A：分析环形取值区域的区域亮度参数，若任一区域亮度参数与光斑亮度参数之间的差异过大，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

进一步地，步骤2.3A包括：

步骤2.3A.1：计算出各个环形取值区域的区域平均亮度值，以及光斑平均亮度值；

步骤2.3A.2：将各个区域平均亮度值分别与光斑平均亮度值作比较，若任一区域平均亮度值与光斑平均亮度值之间的差值大于第一预设值，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

进一步地，步骤2还包括：

步骤2.1B：画出光斑灰度直方图；

步骤2.2B：分析光斑灰度直方图的倾斜度，若倾斜度较大，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

进一步地，步骤2.2B包括：

步骤2.2B.1：计算出光斑灰度直方图的斜率曲线；

步骤2.2B.2：若斜率曲线的最大值大于第二预设值，则判断待测光源装置的均匀性不合格。

一种光源均匀性的检测系统，包括：

投射平面，用于供待测光源装置投射光斑；

摄像装置，用于采集待测光源装置向投射平面投射的光斑获取光斑图像；

处理装置，用于对获取到的光斑图像进行处理分析，依据光斑亮度参数和/或光斑灰度参数，判断待测光源装置的均匀性是否合格，其输入端连接至所述摄像装置的输出端，以读取所述摄像装置获取的光斑图像。

进一步地，所述处理装置在判断待测光源装置的均匀性是否合格时，进行如下步骤：

步骤1A：在光斑图像中，计算出光斑质心；

步骤2A：以光斑质心为圆心，以相同视角差选取多个环形取值区域；