[发明专利]存储器装置及其多数检测器

权利要求书

1.一种多数检测器，包括：

上拉电路，被配置为在感测期间之前根据控制信号提供第一电压至第一节点与一第二节点；

第一开关，耦接在第二电压与所述第一节点之间，且被配置为在所述感测期间根据所述控制信号提供所述第二电压至所述第一节点，且所述第二电压大于所述第一电压；

第二开关，耦接在所述第二电压与所述第二节点之间，且被配置为在所述感测期间根据所述控制信号提供所述第二电压至所述第二节点；

多个第一晶体管，耦接在所述第一节点与第三节点之间，且所述多个第一晶体管的控制端分别接收数据信号的多个值的其中一者，其中所述第三节点在所述感测期间耦接至第三电压，且所述第三电压小于所述第一电压；

多个第二晶体管，耦接在所述第二节点与所述第三节点之间，所述多个第二晶体管的控制端分别接收所述多个值的其中一者的反向值；以及

感测放大电路，耦接所述第一节点以及所述第二节点，且在所述感测期间依据所述第一节点以及所述第二节点间的电压差来产生一感测结果，且所述感测结果指出所述多个值中占多数的值。

2.根据权利要求1所述的多数检测器，还包括：

第三开关，耦接在所述第三节点与所述第三电压之间，且被配置为在所述感测期间被导通，

其中所述多个第一晶体管与所述多个第二晶体管皆由相同的N型晶体管所构成，且所述第三开关的电流驱动能力大于所述多个第一晶体管与所述多个第二晶体管的任一者的电流驱动能力。

3.根据权利要求1所述的多数检测器，还包括：

第三晶体管，与所述多个第二晶体管的其中一者并联耦接在所述第二节点与所述第三节点之间，且所述第三晶体管的控制端接收操作电压。

4.根据权利要求3所述的多数检测器，其中所述上拉电路包括：

第四晶体管，耦接在所述第一电压与所述第一节点间，且所述第四晶体管的控制端接收所述控制信号；

第五晶体管，耦接在所述第一电压与所述第二节点间，且所述第五晶体管的控制端接收所述控制信号；以及

第六晶体管，耦接在所述第一节点与所述第二节点间，且所述第六晶体管的控制端接收所述控制信号，

其中，所述第四晶体管、所述第五晶体管以及所述第六晶体管皆为N型晶体管，且所述第一开关与所述第二开关为P型晶体管。

5.根据权利要求2中所述的多数检测器，其中所述感测放大电路包括：

比较及放大电路，比较并放大所述第一节点及所述第二节点间的所述电压差，藉以产生感测值；

闩锁电路，耦接所述比较及放大电路，接收并闩锁所述感测值以产生所述感测结果。

6.根据权利要求5所述的多数检测器，其中所述感测放大电路还包括：

传输电路，接收并依据第一致能信号以决定是否传输所述第一节点及所述第二节点上的电压至所述比较及放大电路。

7.根据权利要求6所述的多数检测器，其中所述传输电路包括：

第一传输闸，耦接在第一端与所述比较及放大电路的第一输入端间，依据所述第一致能信号以被导通或断开；以及

第二传输闸，耦接在第二端与所述比较及放大电路的第二输入端间，依据所述第一致能信号以被导通或断开，

其中，在所述感测期间所述第一传输闸与所述第二传输闸同时被导通，以将所述第一节点及所述第二节点上的电压传输至所述比较及放大电路。

8.根据权利要求6所述的多数检测器，其中所述比较及放大电路包括：

第一交叉耦合晶体管对，所述第一交叉耦合晶体管对的其中一者耦接在操作电压与所述第一节点间，所述第一交叉耦合晶体管对的另一者耦接在所述操作电压以及所述第二节点间；以及

第二交叉耦合晶体管对，所述第二交叉耦合晶体管对的其中一者耦接在参考接地电压与所述第一节点之间，所述第二交叉耦合晶体管对的另一者耦接在所述参考接地电压与所述第二节点间。