[发明专利]高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品及其制备方法在审
| 申请号： | 201810924939.5 | 申请日： | 2018-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN109164124A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 沈克;张兆雄;周大庆;杨波 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 王和平 |
| 地址： | 430083 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 制备 漂移 真空精炼 高炉渣 校正 颗粒样品 转炉渣 熔体 粉末压片法 测量过程 产品测定 缓慢升温 炉渣样品 使用寿命 外观完整 样品质地 冶金材料 研磨 玻璃状 传统的 高温炉 粉粹 熔融 制样 加热 模具 变质 分析 | ||
1.一种高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法，包括将炉渣样品粉粹研磨得颗粒样品，其特征在于：还包括将所述颗粒样品置于高温炉中，缓慢升温至1250±10℃，熔融10～20min，得到熔体，再将所述熔体倒入预先加热至200～400℃的模具中，自然冷却至室温，得到玻璃状样品。
2.根据权利要求1所述高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法，其特征在于：将所述颗粒样品置于高温炉中，缓慢升温至1250±5℃。
3.根据权利要求1或2所述高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法，其特征在于：在所述颗粒样品熔融过程中，取出，摇晃若干次至赶走熔体中的气泡并保证熔体均匀。
4.根据权利要求1或2所述高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法，其特征在于：还向所述颗粒样品中加入助溶剂，所述助溶剂为硼酸盐。
5.根据权利要求3所述高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法，其特征在于：所述颗粒样品的粒度为0.15mm以下，但不包括零。
6.根据权利要求4所述高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法，其特征在于：所述颗粒样品的粒度为0.15mm以下，但不包括零。
7.根据权利要求3所述高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法，其特征在于：所述玻璃状样品的直径为32～35mm，厚度为3～7mm。
8.根据权利要求4所述高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法，其特征在于：所述玻璃状样品的直径为32～35mm，厚度为3～7mm。
9.一种高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品，其特征在于：它为采用权利要求1～8中任意一项所述制备方法制备得到。
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