[发明专利]一种低温制冷机低温参数测量装置及其测量方法

权利要求书

1.一种低温制冷机低温参数测量装置的测量方法，该测量装置包括贴在制冷机冷头上的激光发热片、罩设在制冷机冷头外侧的测试真空罩、安装在测试真空罩顶部的光学窗口以及位于光学窗口上方的激光发射器和红外测温仪；所述光学窗口包括依次设置的用于激光完全透过的光学窗口和用于红外光完全透过的光学窗口；所述激光发热片上涂敷有激光吸收材料；其特征在于，

该装置的测量方法为：

(1)对测试真空罩抽真空；

(2)开启激光发射器，激光发射器发射的激光穿过用于激光透过的光学窗口，照射到激光发热片上；

(3)涂覆在激光发热片上的激光吸收材料将照射到激光发热片上的激光全部吸收，使激光发热片产生热量，该热量用来平衡制冷机冷量；

(4)开启红外测温仪，红外测温仪发射的红外光穿过用于红外光透过的光学窗口，该红外光采集激光发热片的温度值，并将该温度值返回至红外测温仪。

2.根据权利要求1所述的一种低温制冷机低温参数测量装置的测量方法，其特征在于：所述激光发热片通过导热胶耦合在制冷机冷头的顶部。

3.根据权利要求1所述的一种低温制冷机低温参数测量装置的测量方法，其特征在于：所述测试真空罩内的真空度小于10^-2Pa。