[发明专利]一种低温制冷机低温参数测量装置及其测量方法

说明书

本发明涉及一种低温制冷机低温参数测量装置及其测量方法。该装置包括贴在制冷机冷头上的激光发热片、罩设在制冷机冷头外侧的测试真空罩、安装在测试真空罩顶部的光学窗口以及位于光学窗口上方的激光发射器和红外测温仪；所述光学窗口依次设置的用于激光完全透过的光学窗口和用于红外光完全透过的光学窗口；所述激光发热片上涂敷有激光吸收材料。本发明能够解决现有技术中的不足，实现制冷机低温参数的无线测量和远距离测量，具有测量过程简单、测量精度高等特点。

技术领域

本发明涉及低温制冷机技术领域，具体涉及一种低温制冷机低温参数测量装置及其测量方法。

背景技术

低温制冷机是为红外探测器和超导器件等提供低温环境的机电产品，其中以回热式制冷为主，具有重量轻、降温快、制冷效率高、可靠性高和稳定性高的特点。低温制冷机已经广泛用于航天航空、军事科研、资源探测、工农业和健康卫生等领域。

现有的低温制冷机低温参数测试测量方法为：对于制冷温度数据采集使用温度传感器，使用胶粘剂或螺钉紧贴在制冷冷却面上，信号引线通过真空密封结构引出测量；对于制冷量数据采集使用加热丝或加热片，使用胶粘剂或螺钉紧贴在制冷机冷却面上，信号引线通过真空密封结构引出测量。这些测量方法共同点是：（1）必须将传感器紧贴在被测量物上；（2）必须具有测量引线，为了减少漏热，必须使用直径小、长度长的引线。不仅测量过程繁琐，而且会因为引线的干扰和带入的误差，导致测量精度的下降。

发明内容

本发明的目的在于提供一种低温制冷机低温参数测量装置及其测量方法，该测量装置及其测量方法能够解决现有技术中的不足，实现制冷机低温参数的无线测量和远距离测量。

为实现上述目的，本发明采用了以下技术方案：

一种低温制冷机低温参数测量装置，包括贴在制冷机冷头上的激光发热片、罩设在制冷机冷头外侧的测试真空罩、安装在测试真空罩顶部的光学窗口以及位于光学窗口上方的激光发射器和红外测温仪；所述光学窗口包括依次设置的用于激光完全透过的光学窗口和用于红外光完全透过的光学窗口；所述激光发热片上涂敷有激光吸收材料，激光吸收材料，用于吸收照射到激光发热片上的激光。

进一步的，所述激光发热片通过导热胶耦合在制冷机冷头的顶部。

本发明还涉及一种上述低温制冷机低温参数测量装置的测量方法，该方法包括以下步骤：

（1）对测试真空罩抽真空，使测试真空罩内的真空度小于10^-2Pa。

（2）开启激光发射器，激光发射器发射的激光穿过用于激光透过的光学窗口，照射到激光发热片上。

（3）涂覆在激光发热片上的激光吸收材料将照射到激光发热片上的激光全部吸收，使激光发热片产生热量，该热量用来平衡制冷机冷量。

（4）开启红外测温仪，红外测温仪发射的红外光穿过用于红外光透过的光学窗口，该红外光采集激光发热片的温度值，并将该温度值返回至红外测温仪。

由以上技术方案可知，本发明能够解决现有技术中的不足，实现制冷机低温参数的无线测量和远距离测量，具有测量过程简单、测量精度高等特点。

附图说明

图1是本发明中低温制冷机低温参数测量装置的结构示意图。

其中：

1、激光发射器，2、红外测温仪，3、用于激光通过的光学窗口，4、用于红外光透过的光学窗口，5、激光发热片，6、制冷机冷头，7、测试真空罩。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步说明：