[发明专利]掀盖式测试结构

权利要求书

1.一种掀盖式测试结构，包括上部结构、底座结构、待测试连接器及测试结构，其特征在于：所述上部结构包括连接架、上部端盖、下部端盖及导向柱，所述导向柱固定于所述上部端盖，所述导向柱配合收容于所述下部端盖，所述下部端盖转动安装于所述连接架，所述连接架固定于所述底座结构，所述待测试连接器安装于所述底座结构，所述测试结构安装于所述上部端盖，转动所述下部端盖使所述下部端盖抵触于所述底座结构，所述测试结构正对所述待测试连接器，挤压所述上部端盖使所述上部端盖沿所述导向柱滑动，使所述测试结构接触所述待测试连接器。

2.如权利要求1所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述上部结构还包括转轴，所述连接架设有第一收容槽，所述转轴安装于所述第一收容槽，所述第一收容槽呈长方形，所述下部端盖通过所述转轴转动安装于所述连接架。

3.如权利要求1所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述上部结构还包括抵触固定件，所述上部端盖包括固定块，所述固定块设有第二收容槽，所述抵触固定件转动安装于第二收容槽。

4.如权利要求3所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述上部结构还包括抵触台，所述抵触固定件包括抵触部，所述抵触固定件上部呈弯折状，所述抵触部正对所述抵触台。

5.如权利要求4所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述抵触固定件及所述抵触台的数量为两个，两个所述抵触固定件位于所述下部端盖相对两侧，两个所述抵触固定件在同一直线上。

6.如权利要求1所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述下部端盖包括导套，所述导套设有导向孔，所述导向柱配合收容于所述导向孔。

7.如权利要求4所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述上部结构还包括弹性结构，所述弹性结构包括弹性件及导向件，所述弹性件套设于所述导向件，所述弹性件两端抵触于所述上部端盖及所述下部端盖，所述导向件上部固定于所述上部端盖，所述导向件配合收容于所述下部端盖。

8.如权利要求7所述的掀盖式测试结构，其特征在于：当所述掀盖式测试结构处于测试状态时，转动所述下部端盖使所述下部端盖抵触于所述底座结构，所述下部端盖平行于所述底座结构，所述测试结构平行于所述待测试连接器，挤压所述上部端盖使所述上部端盖向所述下部端盖靠近，所述弹性件处于压缩状态。

9.如权利要求8所述的掀盖式测试结构，其特征在于：当所述掀盖式测试结构处于测试状态时，所述测试结构抵触于所述待测试连接器，转动所述抵触固定件使所述抵触部抵触于所述抵触台，所述测试结构包括若干测试探针，所述测试探针正对所述待测试连接器。

10.如权利要求1所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述底座结构设有第三收容槽、配合槽及插接槽，所述底座结构包括平台部，所述连接架安装于第三收容槽，当所述掀盖式测试结构处于测试状态时，所述上部结构部分收容于所述配合槽，所述下部端盖包括导套，所述导套部分收容于插接槽。