[发明专利]掀盖式测试结构

说明书

本发明公开了一种掀盖式测试结构，包括上部结构、底座结构、待测试连接器及测试结构，上部结构包括连接架、上部端盖、下部端盖及导向柱，导向柱固定于上部端盖，导向柱配合收容于下部端盖，下部端盖转动安装于连接架，连接架固定于底座结构，待测试连接器安装于底座结构，测试结构安装于上部端盖，转动下部端盖使下部端盖抵触于底座结构，测试结构正对待测试连接器，挤压上部端盖使上部端盖沿导向柱滑动，使测试结构接触待测试连接器，解决了行业内为实现垂直下针而结构设计复杂、不便于手动操作的问题，同时可以避免旋转测试导致探针的寿命极低、压伤产品、重测率偏高和对零部件加工精度要求极高等问题。

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种掀盖式测试结构。

背景技术

目前，在掀盖式测试领域，传统的设计模式为：POGOPIN模组固定在掀盖板上，在旋转的过程中，POGOPIN模组的探针与产品触点接触，实现信号的传输，但该测试模式存在明显的弊端：由于产品与POGOPIN模组中的探针为旋转接触，细小的探针与产品接触时是有一定角度，就会在测试过程中对探针造成侧向力，降低其测试寿命，甚至造成产品损伤、重测率偏高、维修频率增加、成本飙升、影响产能。

掀盖式垂直下针测试装置，公开了一种测试方案，其用于上述所示的B2B连接器、PCB等电路板测试领域，产品放入载板模组，掀盖模组先旋转盖下后，垂直下压模组再垂直载板模组下压，其结构的特殊性，会实现POGPOIN模组探针与产品的垂直接触。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种掀盖式测试结构，其能解决测试不便的问题。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种掀盖式测试结构，包括上部结构、底座结构、待测试连接器及测试结构，所述上部结构包括连接架、上部端盖、下部端盖及导向柱，所述导向柱固定于所述上部端盖，所述导向柱配合收容于所述下部端盖，所述下部端盖转动安装于所述连接架，所述连接架固定于所述底座结构，所述待测试连接器安装于所述底座结构，所述测试结构安装于所述上部端盖，转动所述下部端盖使所述下部端盖抵触于所述底座结构，所述测试结构正对所述待测试连接器，挤压所述上部端盖使所述上部端盖沿所述导向柱滑动，使所述测试结构接触所述待测试连接器。

进一步地，所述上部结构还包括转轴，所述连接架设有第一收容槽，所述转轴安装于所述第一收容槽，所述第一收容槽呈长方形，所述下部端盖通过所述转轴转动安装于所述连接架。

进一步地，所述上部结构还包括抵触固定件，所述上部端盖包括固定块，所述固定块设有第二收容槽，所述抵触固定件转动安装于第二收容槽。

进一步地，所述上部结构还包括抵触台，所述抵触固定件包括抵触部，所述抵触固定件上部呈弯折状，所述抵触部正对所述抵触台。

进一步地，所述抵触固定件及所述抵触台的数量为两个，两个所述抵触固定件位于所述下部端盖相对两侧，两个所述抵触固定件在同一直线上。

进一步地，所述下部端盖包括导套，所述导套设有导向孔，所述导向柱配合收容于所述导向孔。

进一步地，所述上部结构还包括弹性结构，所述弹性结构包括弹性件及导向件，所述弹性件套设于所述导向件，所述弹性件两端抵触于所述上部端盖及所述下部端盖，所述导向件上部固定于所述上部端盖，所述导向件配合收容于所述下部端盖。

进一步地，当所述掀盖式测试结构处于测试状态时，转动所述下部端盖使所述下部端盖抵触于所述底座结构，所述下部端盖平行于所述底座结构，所述测试结构平行于所述待测试连接器，挤压所述上部端盖使所述上部端盖向所述下部端盖靠近，所述弹性件处于压缩状态。

进一步地，当所述掀盖式测试结构处于测试状态时，所述测试结构抵触于所述待测试连接器，转动所述抵触固定件使所述抵触部抵触于所述抵触台，所述测试结构包括若干测试探针，所述测试探针正对所述待测试连接器。