[发明专利]一种阵列基板驱动电路的测试方法及显示面板

说明书

本申请公开了一种阵列基板驱动电路的测试方法及显示面板，该方法包括将从阵列基板的测试端子中引出的多条测试信号线中的一条连接一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试；断开最近测试完的测试信号线与驱动信号线的连接；将另一条测试信号线连接另一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试；返回断开最近测试完的测试信号线与驱动信号线的连接的步骤，直至测试完成。通过上述方式，本申请能够利用少于驱动信号线数量的测试端子完成驱动电路的测试，节省了测试端子和生产成本。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种阵列基板驱动电路的测试方法及显示面板。

背景技术

目前阵列栅极驱动(Gate-driver On Array，GOA)技术已经被广泛用于显示面板中，GOA技术可以节省栅极集成电路的成本，也能够缩减显示面板边框的宽度，对现在流行的窄边框设计非常有利，GOA是未来显示面板设计的一个重要技术。

本申请的发明人在长期研发中发现，现有GOA产品实现扫描信号的输出需要多组信号和电路共同完成；由于扫描信号的输出需要多组GOA信号，从而使得阵列基板制程中的检测制程需要增加多个测试端子来给显示面板提供输入信号以便进行检测；但是随着对产品的要求越来越高，GOA信号逐渐增多，使得阵列基板测试需要设计多组测试端子，机台测试治具的引脚增加，从而大大增加阵列基板测试治具的成本。

发明内容

本申请主要解决的问题是提供一种阵列基板驱动电路的测试方法及显示面板，能够利用少于驱动信号线数量的测试端子完成驱动电路的测试，节省了测试端子和生产成本。

为解决上述技术问题，本申请采用的技术方案是提供一种阵列基板驱动电路的测试方法，该方法包括：将从阵列基板的测试端子中引出的多条测试信号线中的一条连接一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试；断开最近测试完的测试信号线与驱动信号线的连接；将另一条测试信号线连接另一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试；返回断开最近测试完的测试信号线与驱动信号线的连接的步骤，直至测试完成。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一技术方案是提供一种显示面板，该显示面板包括：基板、像素电路、若干驱动信号线和若干测试信号线；像素电路位于基板一侧显示区域；驱动信号线位于与像素电路同侧的基板上，且自基板外围的非显示区域延伸至显示区域，驱动信号线与像素电路连接；测试信号线位于与像素电路同侧的基板上，每条测试信号线被设计为与一条驱动信号线连接以对像素电路进行测试；其中，至少有一条测试信号线与驱动信号线之间的连接结构为焊接结构，和/或至少有一条测试信号线与驱动信号线之间存在烧断或割断结构。

通过上述方案，本申请的有益效果是：本申请中阵列基板的测试端子与多条测试信号线连接，首先将与测试端子连接的多条测试信号线中的一条连接一条驱动信号线，利用外部测试探针对测试端子输入信号以进行测试；然后重复执行：将最近测试完的测试信号线与驱动信号线之间的连接断开，并将另一条测试信号线连接另一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试的操作，直至测试完成；通过利用少于驱动信号线数量的测试端子完成了驱动电路的测试，节省了测试端子和生产成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是现有技术中信号线和测试端子的连接示意图；

图2是本申请提供的阵列基板驱动电路的测试方法第一实施例的流程示意图；

图3是图2中步骤21对应的驱动信号线和测试端子的连接示意图；

图4是图2中步骤22和步骤23对应的驱动信号线和测试端子的连接示意图；