[发明专利]一种LATTICE 1032 CPLD的检测方法在审
| 申请号： | 201810941769.1 | 申请日： | 2018-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN109239586A | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 杨彬彬;曾垒;杨鲲;段超迪 | 申请（专利权）人： | 国营芜湖机械厂 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 24100*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 寄存器功能 检测 基本逻辑功能 输入输出功能 输入输出检测 发光二极管 元器件筛选 测试 操作过程 分频信号 故障检测 降低生产 节约资源 输入时钟 引脚 输出 | ||
【权利要求书】：
1.一种LATTICE 1032 CPLD的检测方法，其特征在于，包括步骤：
s1)寄存器功能测试；
s2)基本逻辑功能测试。
2.根据权利要求1所述的一种LATTICE 1032 CPLD的检测方法，其特征在于：所述步骤s1)包括波形输出测试功能，将编写好的程序烧进芯片内，通过程序对板载晶振提供的时钟信号进行分频处理，在相应输出端口输出固定频率的方波，并用示波器进行检测。
3.根据权利要求1所述的一种LATTICE 1032 CPLD的检测方法，其特征在于：所述步骤s2)包括电平输出测试功能，通过程序在芯片输入端口输入低/高电平，在输出端口直接输出高/低电平，通过显示LED直观检查。
4.根据权利要求2或3所述的一种LATTICE 1032 CPLD的检测方法，其特征在于：检测过程中对芯片IO进行分组。
5.根据权利要求4所述的一种LATTICE 1032 CPLD的检测方法，其特征在于：编号UA的芯片测试接口的奇数I/O口为信号输入端口，偶数I/O口为信号输出端口。
6.根据权利要求4所述的一种LATTICE 1032 CPLD的检测方法，其特征在于：编号UB的芯片测试接口的偶数I/O口为信号输入端口，奇数I/O口为信号输出端口。
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