[发明专利]一种新型孔径检测治具、孔径测量高度规及其检测方法

权利要求书

1.一种新型孔径检测治具，其特征在于：包括一体结构的测量块和固定块，所述测量块与固定块为相同轴心，所述测量块为锥形，其最下方为零点，所述固定块上设有与测量块相同轴心的安装孔。

2.根据权利要求1所述的一种新型孔径检测治具，其特征在于：所述固定块上设有与安装孔垂直的固定螺丝，所述固定螺丝旋接在固定块上并可延伸到所述安装孔内。

3.一种孔径测量高度规，其特征在于：采用权利要求1或2任一所述的孔径检测治具。

4.一种孔径测量方法，其特征在于：包括使用高度规，所述高度规上设有垂直方法的探针，所述高度规的探针上下运动进行测量，包括以下步骤：

S1、将探针放入到安装孔内，使用固定螺丝将固定块与探针进行固定；

S2、将需要测量的工件放置在测量台上，工件上的测量孔为垂直设置，将测量块最下方的零点接触到工件的上端面，此时将高度规的读数设置为0；

S3、将工件的测量孔中心与测量块为同一轴心，向下移动测量块，使锥体与测量孔接触时形成接触点，停止移动，读取向下移动的距离b；

S4、根据距离b，可计算出测量孔的直径a的实绩数据，判断是否合格。

5.根据权利要求4所述的一种孔径测量方法，其特征在于：所述S1步骤中，探针、固定块和测量块同一轴心设置。

6.根据权利要求4所述的一种孔径测量方法，其特征在于：所述S3步骤中，测量块从0开始向下移动的数据b小于等于测量孔的深度。

7.根据权利要求4所述的一种孔径测量方法，其特征在于：所述S1和S2步骤只限于测量第一个工件时使用。