[发明专利]一种新型孔径检测治具、孔径测量高度规及其检测方法

说明书

本发明提供了一种新型孔径检测治具，包括一体结构的测量块和固定块，所述测量块与固定块为相同轴心，所述测量块为锥形，其最下方为零点，所述固定块上设有与测量块相同轴心的安装孔。一种孔径测量高度规，采用了孔径检测治具。本发明的有益效果为：利用高度规带动测量块的锥体向下移动，通过三角函数计算出测量得出的孔径数值，一次即可判断孔径是否合格，测量效率大大提高。

技术领域

本发明涉及治具检测领域，特别涉及一种新型孔径检测治具、孔径测量高度规及其检测方法。

背景技术

在机械加工领域，对工件的孔径控制是非常重要的，为了更好的控制工件的孔径，一般采用通止规进行测量，每个孔径需要测量两次，即通规一次、止规一次，才可知道孔径是否合格，对于按比例抽检测量可能影响不大，但对于需要全数测量的产品，侧需要大量的时间与人工进行测量。

发明内容

本发明的目的是提供一种新型利用高度规进进行孔径检测的治具及其快速检测方法，以解决背景技术中的问题。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种新型孔径检测治具，包括一体结构的测量块和固定块，所述测量块与固定块为相同轴心，所述测量块为锥形，其最下方为零点，所述固定块上设有与测量块相同轴心的安装孔。

进一步的技术方案，所述固定块上设有与安装孔垂直的固定螺丝，所述固定螺丝旋接在固定块上并可延伸到所述安装孔内。

一种孔径测量高度规，采用了孔径检测治具。

一种孔径测量方法，包括使用高度规，所述高度规上设有垂直方法的探针，所述高度规的探针上下运动进行测量，包括以下步骤：

S1、将探针放入到安装孔内，使用固定螺丝将固定块与探针进行固定；

S2、将需要测量的工件放置在测量台上，工件上的测量孔为垂直设置，将测量块最下方的零点接触到工件的上端面，此时将高度规的读数设置为0。

S3、将工件的测量孔中心与测量块为同一轴心，向下移动测量块，使锥体与测量孔接触时形成接触点，停止移动，读取向下移动的距离b。

S4、根据距离b，可计算出测量孔的直径a的实绩数据，判断是否合格。

进一步的技术方案，所述S1步骤中，探针、固定块和测量块同一轴心设置。

进一步的技术方案，所述S3步骤中，测量块从0开始向下移动的数据b小于等于测量孔的深度。

进一步的技术方案，所述S1和S2步骤只限于测量第一个工件时使用。

本发明的有益效果为：

利用高度规带动测量块的锥体向下移动，通过三角函数计算出测量得出的孔径数值，一次即可判断孔径是否合格，测量效率大大提高。

附图说明

图1是本发明的结构图；

图2是本发明的测量原理示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明进行进一步说明：

如图1~2所示，一种新型孔径检测治具，包括一体结构的测量块1和固定块2，所述测量块1与固定块2为相同轴心，所述测量块1为锥体11，其最下方为零点12，所述固定块2上设有与测量块1相同轴心的安装孔21。

进一步的技术方案，所述固定块2上设有与安装孔21垂直的固定螺丝22，所述固定螺丝22旋接在固定块2上并可延伸到所述安装孔21内。

一种孔径测量高度规，采用了孔径检测治具。