[发明专利]一种NVMe SSD热插拔的测试方法及系统在审
| 申请号： | 201810948353.2 | 申请日： | 2018-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN109189621A | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 亓浩;赵帅;肖占慧;孙昊;姜洪正 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 热插拔 拔出 热插拔测试 测试数据 主机 计算机可读存储介质 测试方法及系统 测试数据对应 热插拔系统 测试 测试系统 接口引脚 数据中心 低电平 高电平 上引 预设 申请 判定 返回 应用 | ||
1.一种NVMe SSD热插拔的测试方法，应用于主机，其特征在于，包括：
S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMe SSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；
S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMe SSD拔出，获取拔出测试数据；
S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；若是，则返回S1。
2.根据权利要求1所述的NVMe SSD热插拔的测试方法，其特征在于，利用脚本控制所述仿接口引脚装置对应的电源开启以控制所述电平为高电平；利用所述脚本控制所述电源关闭以控制所述电平为低电平。
3.根据权利要求1所述的NVMe SSD热插拔的测试方法，其特征在于，在以模拟所述NVMeSSD插入和获取插入测试数据之间，还包括：
执行IO测试程序得到IO测试数据；
执行预设测试脚本得到脚本测试数据。
4.根据权利要求1所述的NVMe SSD热插拔的测试方法，其特征在于，在获取拔出测试数据之后，还包括：
将所述插入测试数据和所述拔出测试数据保存为测试文档。
5.一种NVMe SSD热插拔的测试系统，其特征在于，包括：
高电平控制模块，用于控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMeSSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；
低电平控制模块，用于控制所述电平为低电平以模拟所述NVMe SSD拔出，获取拔出测试数据；
份数判断模块，用于判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；当所述份数判断模块判断所述份数小于所述预设测试份数时，进入所述高电平控制模块及所述低电平控制模块。
6.根据权利要求5所述的NVMe SSD热插拔的测试系统，其特征在于，
所述高电平控制模块包括电源开启单元，用于利用脚本控制所述仿接口引脚装置对应的电源开启以控制所述电平为高电平；
所述低电平控制模块包括电源关闭单元，用于利用所述脚本控制所述电源关闭以控制所述电平为低电平。
7.根据权利要求5所述的NVMe SSD热插拔的测试系统，其特征在于，还包括：
IO执行模块，用于执行IO测试程序得到IO测试数据；
测试脚本执行模块，用于执行预设测试脚本得到脚本测试数据。
8.根据权利要求5所述的NVMe SSD热插拔的测试系统，其特征在于，还包括：
存储模块，用于将所述插入测试数据和所述拔出测试数据保存为测试文档。
9.一种NVMe SSD热插拔的测试设备，其特征在于，包括：
主机、仿接口引脚装置、存储器及处理器；其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的NVMe SSD热插拔的测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的NVMe SSD热插拔的测试方法的步骤。
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