[发明专利]一种NVMe SSD热插拔的测试方法及系统

说明书

本申请提供了一种NVMe SSD热插拔的测试方法，应用于主机，包括：S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMe SSD插入，获取插入测试数据；S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMe SSD拔出，获取拔出测试数据；S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；若是，则返回S1。该方法能够在相同的工作时间内获取大量有效的NVMe SSD热插拔测试数据，进而更加准确判定主机中热插拔系统的可靠性，且能减少热插拔测试中NVMe SSD的损耗，提高数据中心的竞争力。本申请还提供一种NVMe SSD热插拔的测试系统、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

技术领域

本申请涉及云计算数据中心技术领域，特别涉及一种NVMe SSD热插拔的测试方法、系统、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

在云计算时代，海量数据需要存储和读取，NVMe SSD(Non-Volatile Memoryexpress非易失性内存主机控制器接口规范，Solid State Disk固态硬盘)引入了无与伦比的输入和输出性能，并迅速成为存储的关键组件。但NVMe SSD直接连接到通用的PCIe(Peripheral Component Interconnect express高速串行计算机扩展总线标准)总线上，NVMe SSD的控制器在驱动器内部，会随着SSD的移除而删除，热插拔处理完全依赖于操作系统的PCIe热插拔处理机制。如果对热拔插的支持易用性不好，很容易导致系统异常，业务中断。因此测试主机的热拔插的系统可靠性成为存储产品测试的一项关键业务和技术。

目前的NVMe SSD热插拔测试基本是人工手动测试，测试效率低，测试次数少，有效测试数据少，无法大规模快速得到有效的NVMe SSD热插拔测试数据；部分采用机械插拔测试方法，无法及时预警和记录所遇到的相关问题，只能得到成功概率等宽泛的测试数据，无法为产品的热插拔可靠性提供保障。

因此，如何在相同的工作时间内获取大量有效的NVMe SSD热插拔测试数据，进而更加准确判定主机热插拔系统的可靠性是本领域技术人员需要解决的技术问题。

申请内容

本申请的目的是提供一种NVMe SSD热插拔的测试方法、系统、设备及计算机可读存储介质，能够在相同的工作时间内获取大量有效的NVMe SSD热插拔测试数据，进而更加准确判定主机热插拔系统的可靠性。

为解决上述技术问题，本申请提供一种NVMe SSD热插拔的测试方法，应用于主机，包括：

S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMe SSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；

S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMe SSD拔出，获取拔出测试数据；

S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；若是，则返回S1。

优选地，利用脚本控制所述仿接口引脚装置对应的电源开启以控制所述电平为高电平；利用所述脚本控制所述电源关闭以控制所述电平为低电平。

优选地，在以模拟所述NVMe SSD插入和获取插入测试数据之间，还包括：

执行IO测试程序得到IO测试数据；

执行预设测试脚本得到脚本测试数据。

优选地，在获取拔出测试数据之后，还包括：

将所述插入测试数据和所述拔出测试数据保存为测试文档。

本申请还提供一种NVMe SSD热插拔的测试系统，包括：

高电平控制模块，用于控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMe SSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；