[发明专利]一种高精度温度检测方法及装置

权利要求书

1.一种高精度温度检测方法，应用于芯片中，其特征在于，所述方法包括：

根据所述芯片中晶振时钟和RC时钟的频率比例关系获取当前温度环境下所述RC时钟的当前频率；

基于预存的所述芯片对应的温度值与RC时钟频率的关系，确定所述当前频率对应的第一温度值，则确定所述当前温度环境的温度值为所述第一温度值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述芯片中晶振时钟和RC时钟的频率比例关系获取当前温度环境下所述RC时钟的当前频率包括：

获取设定时间段内所述芯片中晶振时钟的计数值K和RC时钟的计数值为N；

基于公式确定RC时钟的频率为f1；其中，f2为晶振时钟的频率。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述芯片中晶振时钟和RC时钟的频率比例关系获取当前温度环境下所述RC时钟的当前频率之前还包括：

获取不同温度下所述RC时钟的频率；

根据获取到的RC时钟的频率确定所述RC时钟的频率与温度的关系。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述获取不同温度下所述RC时钟的频率之前还包括：

调节所述RC时钟中电容的电容值和电阻的电阻值，使得所述RC时钟的输出频率与预设目标值的差值在设定范围内。

5.一种高精度温度检测装置，应用于芯片中，其特征在于，所述装置包括：

确定频率模块：用于根据所述芯片中晶振时钟和RC时钟的频率比例关系获取当前温度环境下所述RC时钟的当前频率；

确定温度模块：用于基于预存的所述芯片对应的温度值与RC时钟频率的关系，确定所述当前频率对应的第一温度值，则确定所述当前温度环境的温度值为所述第一温度值。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述确定频率模块包括：

第一子模块：用于获取设定时间段内所述芯片中晶振时钟的计数值K和RC时钟的计数值为N；

第二子模块：用于基于公式确定RC时钟的频率为f1；其中，f2为晶振时钟的频率。

7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

获取频率模块：用于获取不同温度下所述RC时钟的频率；

获取关系模块：用于根据获取到的RC时钟的频率确定所述RC时钟的频率与温度的关系。

8.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

调节模块：用于调节所述RC时钟中电容的电容值和电阻的电阻值，使得所述RC时钟的输出频率与预设目标值的差值在设定范围内。

9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括计算机程序，当计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行如权利要求1至4任一所述的方法。

10.一种包含指令的计算机程序产品，其特征在于，当所述指令在计算机上运行时，使得所述计算机执行如权利要求1至4任一项所述的方法。