[发明专利]基于介质集成悬置线和高介电材料的电容结构有效

专利信息
申请号: 201810966432.6 申请日: 2018-08-23
公开(公告)号: CN109166729B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 马凯学;王勇强 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01G4/30 分类号: H01G4/30;H01G4/005
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 李朝虎
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 基于 介质 集成 悬置 高介电 材料 电容 结构
【权利要求书】:

1.基于介质集成悬置线和高介电材料的电容结构,包括介质集成悬置线的多层结构,其特征在于,所述多层结构中的一层或多层设置为高介电材料层;所述高介电材料层上设置空腔,且空腔内设置与空腔形状匹配的高介电材料(1);与高介电材料层相邻的介质层朝向高介电材料层的面上设置金属板(3);

当所述介质集成悬置线的多层结构为五层结构时,所述五层结构包括自上而下依次设置的介质层A(11)、介质层B(12)、介质层C(13)、介质层D(14)和介质层E(15);所述介质层B(12)和介质层D(14)为高介电材料层;所述介质层A(11)朝向介质层B(12)的面上设置金属板(3);所述介质层C(13)朝向介质层B(12)和介质层D(14)的两个面上均设置金属板(3);所述介质层E(15)朝向介质层B(12)的面上设置金属板(3);

当所述介质集成悬置线的多层结构为七层结构时;所述七层结构包括自上而下依次设置的第一介质层(21)、第二介质层(22)、第三介质层(23)、第四介质层(24)、第五介质层(25)、第六介质层(26)和第七介质层(27);所述第四介质层(24)为高介电材料层;

所述第三介质层(23)和第五介质层(25)的两个面上均设置金属板(3);所述第二介质层(22)和第六介质层(26)均镂空形成空腔结构;所述第一介质层(21)朝向第二介质层(22)的面上设置金属板(3);所述第七介质层(27)朝向第六介质层(26)的面上设置金属板(3)。

2.根据权利要求1所述的基于介质集成悬置线和高介电材料的电容结构,其特征在于,所述介质层C(13)两个面上的金属板(3)通过贯穿介质层C(13)的金属化通孔(2)连接。

3.根据权利要求1所述的基于介质集成悬置线和高介电材料的电容结构,其特征在于,所述介质层C(13)一个面上的金属板(3)接端口A(16),另一个面上的金属板(3)接端口B(17)。

4.根据权利要求1所述的基于介质集成悬置线和高介电材料的电容结构,其特征在于,所述第三介质层(23)两个面上的金属板(3)通过贯穿第三介质层(23)的金属化通孔(2)连接;所述第五介质层(25)两个面上的金属板(3)通过贯穿第五介质层(25)的金属化通孔(2)连接。

5.根据权利要求1所述的基于介质集成悬置线和高介电材料的电容结构,其特征在于,所述第三介质层(23)朝向第二介质层(22)的面上设置的金属板(3)接第一端口(28);所述第五介质层(25)朝向第六介质层(26)的面上设置的金属板(3)接第二端口(29)。

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