[发明专利]一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质有效
申请号: | 201810967274.6 | 申请日: | 2018-08-23 |
公开(公告)号: | CN109117406B | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 刘胜 | 申请(专利权)人: | 郑州云海信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F13/40 | 分类号: | G06F13/40 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 韩洪淼 |
地址: | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pcie 热拔插 测试 方法 装置 终端 存储 介质 | ||
1.一种PCIE热拔插测试方法,其特征在于,所述方法包括:
利用中间接口连接PCIE接口和测试卡;
设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期;
控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动;
获取所述测试卡的状态信息;
所述控制中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动包括:
设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间;
在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动,并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态;
在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态;
所述方法还包括:
设置测试循环次数;
根据所述循环次数循环执行所述测试周期。
2.一种PCIE热拔插测试装置,其特征在于,所述装置包括:
连接单元,配置用于利用中间接口连接PCIE接口和测试卡;
设置单元,配置用于设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期;
执行单元,配置用于控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动;
获取单元,配置用于获取所述测试卡的状态信息;
所述执行单元包括:
时间设置模块,配置用于设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间;
通电模拟模块,配置用于在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动,并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态;
断电模拟模块,配置用于在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态;
所述装置还包括:
次数设置单元,配置用于设置测试循环次数;
循环执行单元,配置用于根据所述循环次数循环执行所述测试周期。
3.一种终端,其特征在于,包括:
处理器;
用于存储处理器的执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行权利要求1所述的方法。
4.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1所述的方法。
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