[发明专利]一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质

说明书

本申请实施例提供一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质，所述方法包括：利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；获取所述测试卡的状态信息。通过利用中间接口连接PCIE接口和测试卡，并通过控制中间接口的加载和卸载来模拟热拔插，从而实现对PCIE的自动热拔插测试。本发明无需执行关掉所有应用和测试程序、更好测试卡并重新上电等繁琐操作，只需控制中间接口的驱动状态即可，操作简单，提高测试效率节省了大量测试时间。

技术领域

本发明属于服务器测试技术领域，具体涉及一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质。

背景技术

目前PCIE设备是最主流的设备，但是PCIE接口是不能热拔插的，在实际的测试中，经常遇到需要测试不同卡的情况。目前的操作只能是断电，关掉所有的应用和测试程序，更换测试卡，重新上电，跑测试应用，非常浪费时间。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质，以解决上述技术问题。

第一方面，本申请实施例提供一种PCIE热拔插测试方法，所述方法包括：

利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；

设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；

控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；

获取所述测试卡的状态信息。

结合第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，所述控制中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动包括：

设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间；

在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动，并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态；

在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态。

结合第一方面，在第一方面的第二种实施方式中，所述方法还包括：

设置测试循环次数；

根据所述循环次数循环执行所述测试周期。

第二方面，本申请实施例提供一种PCIE热拔插测试装置，所述装置包括：

连接单元，配置用于利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；

设置单元，配置用于设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；

执行单元，配置用于控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；

获取单元，配置用于获取所述测试卡的状态信息。

结合第二方面，在第二方面的第一种实施方式中，所述执行单元包括：

时间设置模块，配置用于设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间；

通电模拟模块，配置用于在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动，并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态；

断电模拟模块，配置用于在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态。

结合第二方面，在第二方面的第二种实施方式中，所述装置还包括：

次数设置单元，配置用于设置测试循环次数；