[发明专利]一种用于测量工件表面圆孔的扫描仪辅助配件及方法有效

专利信息
申请号: 201810968598.1 申请日: 2018-08-23
公开(公告)号: CN109099839B 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 郑顺义;王晓南;成剑华;任关宝 申请(专利权)人: 武汉中观自动化科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/08
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立;李航
地址: 430000 湖北省武汉市东湖高新技*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 工件 表面 圆孔 扫描仪 辅助 配件 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测量工件表面圆孔的方法,其特征在于:包括以下步骤,

S1,对工件表面的圆孔的周围进行补光;

S2,拍摄经补光后的所述圆孔的左、右两张二维图像,并从两张所述二维图像中提取所述圆孔的圆孔模型二维几何信息;

S3,通过坐标转换,将所述圆孔模型二维几何信息配准到三维模型上,获得所述圆孔的位置和半径;

其中,利用扫描仪辅助配件对工件表面的圆孔的周围进行补光,并拍摄经补光后的所述圆孔的左、右两张二维图像;所述扫描仪辅助配件包括安装座和安装在所述安装座上的补光灯和相机,所述相机设有两个,两个所述相机分布在所述补光灯的两侧;所述补光灯包括灯座和多个LED灯,所述灯座上设有灯心,多个所述LED灯均匀环绕分布在所述灯心的周围;多个所述LED灯环绕分布构成的形状为三角形。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量工件表面圆孔的方法,其特征在于:在所述S2中,通过计算机从两张所述二维图像中提取所述圆孔的圆孔模型二维几何信息;

在所述S3中,在所述计算机中,通过坐标转换,将所述圆孔模型二维几何信息配准到三维模型上,获得所述圆孔的位置和半径。

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