[发明专利]一种用于测量工件表面圆孔的扫描仪辅助配件及方法有效
申请号: | 201810968598.1 | 申请日: | 2018-08-23 |
公开(公告)号: | CN109099839B | 公开(公告)日: | 2021-02-12 |
发明(设计)人: | 郑顺义;王晓南;成剑华;任关宝 | 申请(专利权)人: | 武汉中观自动化科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/08 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立;李航 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖高新技*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 测量 工件 表面 圆孔 扫描仪 辅助 配件 方法 | ||
本发明涉及一种用于测量工件表面圆孔的扫描仪辅助配件及方法,其扫描仪辅助配件包括安装座和安装在所述安装座上的补光灯和相机,所述相机设有两个,两个所述相机对称的分布在所述补光灯的两侧。本发明一种用于测量工件表面圆孔的扫描仪辅助配件,在3D激光扫描仪中加入补光灯,在补光灯工作时,同时对圆孔附近进行照亮,增强圆孔附近的几何特性,增强圆孔周围与圆孔内部的色差,为后期经图像处理而获取高精度的圆孔的位置以及半径提供基础。
技术领域
本发明涉及光学图像信息提取技术领域,具体涉及一种用于测量工件表面圆孔的扫描仪辅助配件及方法。
背景技术
3D激光扫描仪已经能够方便的解决大部分场景中的快速三维扫描任务,实时获取物体表面精确的三维模型,但是对于一些圆孔的提取与模型的重建可能会面临一些精度难题。
在日常的工作中,难免会碰到一些对物体上圆孔位置以及圆孔大小的扫描及提取任务,但是对于常见的三维扫描过程中,由于圆孔特殊的几何结构,扫描得出的圆孔的模型可能会出现变形、圆孔的直径与实际圆孔的直径不符合等相关精度问题,为后续的其他相关工作造成一定的影响。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种用于测量工件表面圆孔的扫描仪辅助配件及方法,可以提高获取圆孔的位置精度以及半径精度。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种用于测量工件表面圆孔的扫描仪辅助配件,包括安装座和安装在所述安装座上的补光灯和相机,所述相机设有两个,两个所述相机分布在所述补光灯的两侧。
本发明的有益效果是:本发明一种用于测量工件表面圆孔的扫描仪辅助配件,在3D激光扫描仪中加入补光灯,在补光灯工作时,同时对圆孔附近进行照亮,增强圆孔附近的几何特性,增强圆孔周围与圆孔内部的色差,为后期经图像处理而获取高精度的圆孔的位置以及半径提供基础。
在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。
进一步,所述补光灯包括灯座和多个LED灯,所述灯座上设有灯心,多个所述LED灯均匀环绕分布在所述灯心的周围。
进一步,多个所述LED灯环绕分布构成的形状为三角形。
基于上述一种用于测量工件表面圆孔的扫描仪辅助配件,本发明还提供一种用于测量工件表面圆孔的方法。
一种用于测量工件表面圆孔的方法,包括以下步骤,
S1,对工件表面的圆孔的周围进行补光;
S2,拍摄经补光后的所述圆孔的左、右两张二维图像,并从两张所述二维图像中提取所述圆孔的圆孔模型二维几何信息;
S3,通过坐标转换,将所述圆孔模型二维几何信息配准到三维模型上,获得所述圆孔的位置和半径。
本发明的有益效果是:本发明一种用于测量工件表面圆孔的方法,通过补光灯增强圆孔周围与圆孔内部的色差,在图像中提取圆孔的位置与大小,利用二维高精度的几何信息,进行二、三维数据的配准,弥补三维模型中圆孔几何信息的缺失,实现圆孔三维模型的高精度重建,增加工作效率。
在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。
进一步,在所述S1中,具体利用补光灯对工件表面的圆孔的周围进行补光。
进一步,在所述S2中,利用分布在所述补光灯两侧的相机拍摄经补光后的所述圆孔的左、右两张二维图像。
进一步,在所述S2中,通过计算机从两张所述二维图像中提取所述圆孔的圆孔模型二维几何信息;
在所述S3中,在所述计算机中,通过坐标转换,将所述圆孔模型二维几何信息配准到三维模型上,获得所述圆孔的位置和半径。
附图说明
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