[发明专利]一种测试SSD最优OP容量的方法

权利要求书

1.一种测试SSD最优OP容量的方法，其特征在于，包括步骤：

（1）搭建测试样机，该所搭建的测试样机内安有N颗待测SSD以及至少一非SSD存储设备，任意的一个非SSD存储设备中安有Linux操作系统，其中所述的N颗待测SSD型号相同，并且N≥2；

（2）开机启动上述所搭建的测试样机进入Linux 操作系统，分别获取上述N颗待测SSD的SN号和盘位顺序，并依盘位顺序递增的顺序，对应记录到设备表中；

（3）依据预先设定的测试策略，分别重置所述设备表中每条记录各自对应待测SSD的OP容量；

（4）对所有待测SSD执行性能测试；

（5）汇集步骤（4）中各待测SSD的性能测试结果，并将汇集的各性能测试结果进行对比，并依据对比结果获取当前型号的SSD的最优性能测试结果；

（6）依据步骤（5）中获取的当前型号的SSD的最优性能测试结果，对应获取当前型号的SSD的最优性能及该最优性能对应的OP容量，该最优性能对应的OP容量即为所要测试的当前型号的SSD的最优OP容量。

2.根据权利要求1所述的测试SSD最优OP容量的方法，其特征在于，进一步地，在步骤（4）中，记录当前批次测试对应的测试批次L，并记n1为所述L的当前取值-1，在当前批次执行完所有待测SSD的性能测试后，将所述L的取值加1并将此时对应n1的取值与100/N进行大小比较，若此时对应n1＜100/N则转而执行步骤（3），否则继续执行步骤（5）。

3.根据权利要求2所述的测试SSD最优OP容量的方法，其特征在于，步骤（3）中所述的测试策略包括步骤：

p1、获取步骤（2）中所述设备表中最大的盘位顺序作为所述N的取值，并获取单个待测SSD的容量M，之后执行步骤p2;

p2、依据计算式(X+n*N)*M/100，对应计算各待测SSD的预设OP容量点，式中 X对应步骤（2）中所述设备表中的记录所对应的序号，n为当前执行所述步骤（3）的次数，N为步骤p1中所述的N；

p3、基于步骤p2中计算所得的各待测SSD的预设OP容量点，对应进行各待测SSD的OP设置。

4.根据权利要求1或2或3所述的测试SSD最优OP容量的方法，其特征在于，步骤（4）中所述的对所有待测SSD执行性能测试的方法为：基于Linux多线程，对所有待测SSD同时执行性能测试。

5.根据权利要求1或2或3所述的测试SSD最优OP容量的方法，其特征在于，所述的N=20。

6.根据权利要求1或2或3所述的测试SSD最优OP容量的方法，其特征在于，步骤（3）中所述的测试策略通过预先写好的可执行脚本进行实现。

7.根据权利要求1或2或3所述的测试SSD最优OP容量的方法，其特征在于，步骤（2）中通过磁盘管理工具对应获取各待测SSD的SN号和盘位顺序。

8.根据权利要求7所述的测试SSD最优OP容量的方法，其特征在于，所述的磁盘管理工具为磁盘管理软件。