[发明专利]一种测试SSD最优OP容量的方法

说明书

本发明提供了一种测试SSD最优OP容量的方法，包括步骤：搭建测试样机；开机启动上述所搭建的测试样机进入Linux操作系统，分别获取各待测SSD的SN号和盘位顺序，并依盘位顺序递增的顺序，对应记录到设备表中；依据预先设定的测试策略，分别重置所述设备表中每条记录各自对应待测SSD的OP容量；对所有待测SSD执行性能测试；汇集各待测SSD的性能测试结果，并将汇集的各性能测试结果进行对比，并依据对比结果获取当前型号的SSD的最优性能测试结果；之后依据该获取的当前型号的SSD的最优性能测试结果，对应获取当前型号的SSD的最优性能及该最优性能对应的最优OP容量。本发明用于提高测试速率和测试的准确度。

技术领域

本发明涉及服务器领域，具体是一种测试SSD最优OP容量的方法，用于快速测试SSD的最优性能对应的最优OP容量。

背景技术

SSD（Solid State Drives，固态硬盘）上的OP(Over-Provisioning，预留空间)指的是用户不可操作的容量，大小为实际容量减去用户可用容量。OP区域一般被用于优化操作，如垃圾回收和坏块映射等。

然而目前，市场上的SSD没有明确指出OP容量对于SSD性能的影响指标，现有技术中也尚未出现好的测试SSD最优OP容量的方法，若需了解SSD到底应该留存多大的OP容量能满足其最优性能的需求，需人工重复进行多次测试，这对用户来说是不友好的，也是不合实际的，无法满足产品开发速率需求和用户应用需求。

为此，本发明提供一种测试SSD最优OP容量的方法，用于解决上述技术问题，以满足产品开发速率需求和用户应用需求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种测试SSD最优OP容量的方法，用于测试SSD的最优性能及其最优性能对应的OP容量。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种测试SSD最优OP容量的方法，包括步骤：

（1）搭建测试样机，该所搭建的测试样机内安有N颗待测SSD以及至少一非SSD存储设备，任意的一个非SSD存储设备中安有Linux操作系统，其中所述的N颗待测SSD型号相同，并且N大于等于2；

（2）开机启动上述所搭建的测试样机进入Linux 操作系统，分别获取上述N颗待测SSD的SN号和盘位顺序，并依盘位顺序递增的顺序，对应记录到设备表中；

（3）依据预先设定的测试策略，分别重置所述设备表中每条记录各自对应待测SSD的OP容量；

（4）对所有待测SSD执行性能测试；

（5）汇集步骤（4）中各待测SSD的性能测试结果，并将汇集的各性能测试结果进行对比，并依据对比结果获取当前型号的SSD的最优性能测试结果；

（6）依据步骤（5）中获取的当前型号的SSD的最优性能测试结果，对应获取当前型号的SSD的最优性能及该最优性能对应的OP容量，该最优性能对应的OP容量即为所要测试的当前型号的SSD的最优OP容量。

进一步地，在步骤（4）中，记录当前批次测试对应的测试批次L，并记n1为所述L的当前取值-1，在当前批次执行完所有待测SSD的性能测试后，将所述L的取值加1并将此时对应n1的取值与100/N进行大小比较，若此时对应n1＜100/N则转而执行步骤（3），否则继续执行步骤（5）。

其中，步骤（3）中所述的测试策略包括步骤：

p1、获取步骤（2）中所述设备表中最大的盘位顺序作为所述N的取值，并获取单个待测SSD的容量M;

p2、依据计算式(X+n*N)*M/100，对应计算各待测SSD的预设OP容量点，式中 X对应步骤（2）中所述设备表中的记录所对应的序号，n为当前执行步骤（3）的次数，N为步骤p1中所述的N；