[发明专利]电容器缺陷检测方法、电容器缺陷检测系统及电容器组立捺印连体机

权利要求书

1.一种电容器缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

控制器控制图像摄取模块拍摄电容器组立捺印连体机的多个工序中素子图像与裸品图像；

多个图像分析单元对应所述多个工序，每一所述图像分析单元对对应的所述图像进行检测和分析以获取图像特征信息，并将所述图像特征信息与阈值数据进行比对输出比对结果。

2.根据权利要求1所述的电容器缺陷检测方法，其特征在于，所述控制器控制图像摄取模块拍摄电容器组立捺印连体机的多个工序中素子图像与裸品图像的步骤包括：

所述控制器根据胶粒圆盘、束模圆盘及印字圆盘相连的角度编码器的信号，控制所述图像摄取模块拍摄所述胶粒圆盘、束模圆盘及印字圆盘中的与所述多个工序对应的素子图像与裸品图像。

3.根据权利要求2所述的电容器缺陷检测方法，其特征在于，所述控制器控制图像摄取模块拍摄电容器组立捺印连体机的多个工序中素子图像与裸品图像的步骤包括：

所述图像摄取模块拍摄所述胶粒圆盘内素子的第一图像，所述图像摄取模块拍摄所述束模圆盘内裸品的第二图像，所述图像摄取模块拍摄所述印字圆盘内裸品的第三图像。

4.根据权利要求3所述的电容器缺陷检测方法，其特征在于，多个图像分析单元对应多个工序，每一图像分析单元对对应的图像进行检测和分析获取图像特征信息，并将所述图像特征信息与阈值数据进行比对输出比对结果步骤包括：

对应胶粒圆盘的第一图像分析单元对所述第一图像进行预处理，获取相应的第一灰度图；对应束模圆盘的第二图像分析单元对所述第二图像进行预处理，获取相应的第二灰度图；对应印字圆盘的第三图像分析单元对所述第三图像进行预处理，获取相应的第三灰度图；

多个所述图像分析单元对应多个所述灰度图进行分割处理与图像分析，获取与多个工序中对应的图像特征信息；第一图像分析单元对所述第一灰度图进行检测和分析，获取所述素子的形状与位置信息作为第一检测值，获取所述素子的芯包与胶粒之间的空隙数据作为第二检测值，第二图像分析单元对所述第二灰度图进行检测和分析，获取所述裸品的铝壳束腰封口信息作为第三检测值，第三图像分析单元对所述第三灰度图进行检测和分析，获取所述裸品的铝壳外表面的印字信息作为第四检测值。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的电容器检测方法，其特征在于，还包括：控制器根据比对结果，发出控制信号控制分拣装置将多个工序中对应的素子与裸品进行分流；

当所述控制器连续三次发出控制信号控制所述分拣装置将电容器组立捺印连体机中同一工序的素子与裸品进行分流时，所述控制器发送停机信号且发送警报信号。

6.一种电容器缺陷检测系统，其特征在于，包括：

图像摄取模块，所述图像摄取模块包括用于拍摄胶粒圆盘中素子图像的第一图像摄取单元，以及用于拍摄束模圆盘中裸品图像的第二图像摄取单元；

及与所述图像摄取模块相连的控制器，包括用于分析所述素子图像的第一图像分析单元与用于分析所述裸品图像的第二图像分析单元，以获取图像特征信息用以与阈值数据进行比对。

7.根据权利要求6所述的电容器缺陷检测系统，其特征在于，所述电容器缺陷检测系统还包括与所述控制器相连的分拣装置，所述分拣装置包括分别对应所述胶粒圆盘与所述束模圆盘设置的驱动单元与分拣装置，用于根据对应的图像特征信息与阈值数据进行比对的结果将不良的素子与裸品分拣出来。

8.根据权利要求6所述的电容器缺陷检测系统，其特征在于，所述控制器与所述胶粒圆盘和/或束模圆盘的角度编码器连接，以使所述控制器根据所述角度编码器的信号控制所述图像摄取模块摄取图像。

9.根据权利要求6所述的电容器缺陷检测系统，其特征在于，所述第一图像摄取单元与所述第二图像摄取单元为CCD图像摄像单元，所述电容器缺陷检测系统还包括至少一个光源，至少一个所述光源用于对所述第一图像摄取单元与所述第二图像摄取单元进行补光。

10.一种电容器组立捺印连体机，包括机架、胶粒圆盘及束模圆盘，其特征在于，所述电容器组立捺印连体机还包括如权利要求6至9中任意一项所述的电容器缺陷检测系统，所述胶粒圆盘与束模圆盘依工序设置在所述机架上。