[发明专利]裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法、设备、介质及系统

权利要求书

1.裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法，其特征在于包括以下步骤：

接收到位信号，接收第一裸电芯到位信号，并根据所述第一裸电芯到位信号控制裸电芯移位装置移动裸电芯至检测位置；

采集裸电芯图像，接收第二裸电芯到位信号，并根据所述第二裸电芯到位信号发送采集信号至图像采集装置进行图像采集，得到裸电芯图像；

检测裸电芯外观尺寸，通过定位参数在所述裸电芯图像上查找裸电芯位置，在所述裸电芯位置处对裸电芯极耳间距、裸电芯宽度进行测量，判断所述裸电芯极耳间距、裸电芯宽度是否在阈值内，是则裸电芯外观尺寸正常，否则裸电芯外观尺寸异常；

查找参数坐标，获取采集的极片图像，通过测量算法查找所述极片图像中隔膜坐标、阳极坐标、阴极坐标；

计算坐标距离，将所述隔膜坐标与所述阳极坐标组合，并计算所述隔膜坐标与所述阳极坐标之间的距离，将所述隔膜坐标与所述阴极坐标组合，并计算所述隔膜坐标与所述阴极坐标之间的距离；

极片纠偏，分别判断所述隔膜坐标与所述阳极坐标之间的距离、所述隔膜坐标与所述阴极坐标之间的距离与纠偏系统数据是否有偏差，是则计算偏差距离并发送至自动卷绕机的控制器控制纠偏机构进行卷绕纠偏。

2.如权利要求1所述的裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法，其特征在于：还包括步骤检测结果处理，若裸电芯外观尺寸正常，则控制所述裸电芯移位装置将所述裸电芯移送至卷绕机的下一工位，并跳转至步骤接收到位信号；若裸电芯外观尺寸异常，则控制所述裸电芯移位装置将所述裸电芯移送至卷绕机的下一工位，同时发送不合格信号至卷绕机对所述裸电芯进行剔除处理，并跳转至步骤接收到位信号；

所述查找参数坐标中，所述阳极坐标包括第一阳极坐标、第二阳极坐标，所述隔膜坐标包括第一隔膜坐标、第二隔膜坐标，所述阴极坐标包括第一阴极坐标、第二阴极坐标，通过测量算法查找所述极片图像中第一隔膜坐标、第二隔膜坐标、第一阳极坐标、第二阳极坐标、第一阴极坐标、第二阴极坐标。

3.如权利要求2所述的裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法，其特征在于：所述第一裸电芯到位信号为所述裸电芯位于卷绕机检测区域的信号，所述第二裸电芯到位信号为所述裸电芯位于所述检测位置的信号；

所述计算坐标距离中，将所述第一隔膜坐标与所述第一阳极坐标组合，并计算所述第一隔膜坐标与所述第一阳极坐标之间的距离，得到第一距离，将所述第二隔膜坐标与所述第二阳极坐标组合，并计算所述第二隔膜坐标与所述第二阳极坐标之间的距离，得到第二距离，将所述第一阳极坐标与所述第一阴极坐标组合，并计算所述第一阳极坐标与所述第一阴极坐标之间的距离，得到第三距离，将所述第二阳极坐标与所述第二阴极坐标组合，并计算所述第二阳极坐标与所述第二阴极坐标之间的距离，得到第四距离。

4.如权利要求3所述的裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法，其特征在于：所述检测裸电芯外观尺寸中，通过定位参数在所述裸电芯图像上生成第一定位框和第二定位框，根据第一定位框和第二定位框查找裸电芯位置；

所述极片纠偏中，所述纠偏系统数据包括第一参考距离、第二参考距离、第三参考距离、第四参考距离，分别判断所述第一距离与所述第一参考距离、所述第二距离与所述第二参考距离、所述第三距离与所述第三参考距离、所述第四距离与所述第四参考距离是否有偏差，是则计算偏差距离，并发送至自动卷绕机的控制器控制纠偏机构进行卷绕纠偏，否则跳转至步骤查找参数坐标。

5.如权利要求4所述的裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法，其特征在于：所述检测裸电芯外观尺寸中，在所述裸电芯位置处生成第一极耳定位框、第二极耳定位框、第一裸电芯边沿定位框、第二裸电芯边沿定位框，对所述第一极耳定位框、第二极耳定位框内的裸电芯极耳间距进行测量，对所述第一裸电芯边沿定位框、第二裸电芯边沿定位框内的裸电芯宽度进行测量；

所述极片纠偏中，所述纠偏系统数据还包括第一阈值范围、第二阈值范围、第三阈值范围、第四阈值范围，判断所述第一距离是否在所述第一阈值范围、所述第二距离是否在所述第二阈值范围、所述第三距离是否在所述第三阈值范围、所述第四距离是否在所述第四阈值范围，若所述第一距离、所述第二距离、所述第三距离、所述第四距离中任意一项不在对应的阈值范围内，则发送控制信号至自动卷绕机进行单卷。