[发明专利]用于确定故障DUT天线的方法以及测量系统

权利要求书

1.一种用于通过采用测量天线阵列(12)来识别至少两个DUT天线(14)之间的性能偏差以确定故障DUT天线(14)的方法，其中所述测量天线阵列(12)被配置为建立所述DUT天线(14)和所述测量天线阵列(12)之间的通信，所述方法包括以下步骤：

-经由所述测量天线阵列(12)在被分配给所述至少两个DUT天线(14)的区域中设置第一预定耦合分布(22)；

-测量用于第一耦合分布(22)的至少一个操作参数；

-经由所述测量天线阵列(12)在被分配给所述至少两个DUT天线(14)的区域中设置第二预定耦合分布(24)；

-测量用于所述第二耦合分布(24)的至少一个操作参数；以及

-基于所述至少一个操作参数的测量结果来识别所述至少两个DUT天线(14)之间的性能偏差；

其中所述第一预定耦合分布和所述第二预定耦合分布(22，24)每个都表示所述测量天线阵列(12)与相应区域之间的电磁耦合的强度，并且其中所述第一预定耦合分布和所述第二预定耦合分布(22，24)彼此不同。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过调整所述测量天线阵列(12)的发送特性来设置预定耦合分布(22，24)。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，针对所述预定耦合分布(22，24)中的每个，经由所述测量天线阵列(12)生成的电磁场的强度分布在被分配给所述DUT天线(14’，14”)中的一个DUT天线的区域中比在被分配给至少一个剩下的DUT天线(14)的区域中更大。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，经由所述测量天线阵列(12)和/或经由所述DUT天线(14)测量所述至少一个操作参数。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，通过调整所述测量天线阵列(12)的接收特性来设置所述第一预定耦合分布和所述第二预定耦合分布(22，24)。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，电磁波经由所述DUT天线(14)被生成并经由所述测量天线阵列(12)被接收，以便测量所述至少一个操作参数。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述至少一个操作参数包括品质因数。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述至少一个操作参数包括误差矢量幅值、相邻信道泄漏比、灵敏度和/或频谱发射掩模。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述测量天线阵列(12)被设置在所述DUT天线(14)的近场区域中。

10.一种用于确定故障DUT天线(14)的测量系统(10)，所述测量系统(10)包括测量天线阵列(12)、测量设备(18)、控制单元(16)以及至少两个DUT天线(14)，其中所述测量天线阵列(12)被配置为在所述DUT天线(14)和所述测量天线阵列(12)之间建立通信，其中所述测量天线阵列(12)被配置为适应所述DUT天线(14)和所述测量天线阵列(12)之间的耦合分布，其中所述测量设备(18)以信号发送的方式连接到所述测量天线阵列(12)和/或所述DUT天线(14)，其中所述测量设备(18)被配置为对所述DUT天线(14)的至少一个操作参数进行测量，并且其中所述控制单元(16)被配置为执行根据前述权利要求中任一项所述的方法。

11.根据权利要求10所述的测量系统(10)，其特征在于，所述测量天线阵列(12)被设置在所述DUT天线(14)的近场区域中。

12.根据权利要求10或11所述的测量系统(10)，其特征在于，所述测量设备(18)被配置为矢量信号分析器、功率计、矢量网络分析器、示波器以及通信信号测试器中的至少一个。

13.根据权利要求10至12中任一项所述的测量系统(10)，其特征在于，所述DUT天线(14)被布置在DUT天线阵列(15)中。