[发明专利]用于确定故障DUT天线的方法以及测量系统

说明书

公开了一种通过采用测量天线阵列(12)来识别至少两个DUT天线(14)之间的性能偏差以确定故障DUT天线(14)的方法。经由所述测量天线阵列(12)在被分配给至少两个DUT天线(14)的区域中设置第一预定耦合分布(22)。测量用于第一耦合分布(22)的至少一个操作参数。然后，经由所述测量天线阵列(12)在被分配给至少两个DUT天线(14)的区域中设置第二预定耦合分布(24)。测量用于第二耦合分布(24)的至少一个操作参数，并且基于至少一个操作参数的测量结果来识别至少两个DUT天线(14)之间的性能偏差。此外，公开了一种测量系统(10)。

技术领域

本发明涉及一种用于通过识别至少两个DUT天线之间的性能偏差来确定故障DUT天线的方法以及测量系统。

背景技术

按照新5G标准，不同通信设备之间(例如移动设备和基站之间)的数据传输依赖于大量的天线通信路径或者更确切地说是通信信道，其经常被称为“大规模MIMO”。

然而，这些通信路径中的一些可能遭受到有缺陷的硬件和/或软件的问题，这可能大大限制相应通信路径的带宽，从而降低通信设备之间的总数据传输速率。

识别这种有缺陷的通信路径对于确保通信网络能够向其用户提供最大可能的数据传输带宽是重要的。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种能够通过识别若干被测设备天线(DUT天线)之间的性能偏差来可靠地确定故障DUT天线的方法以及测量系统。

根据本发明，该问题通过一种用于通过采用测量天线阵列来识别至少两个DUT天线之间的性能偏差以确定故障DUT天线的方法来解决，其中测量天线阵列被配置为在DUT天线和测量天线阵列之间建立通信。所述方法包括以下步骤：经由测量天线阵列在被分配给至少两个DUT天线的区域中设置(set)第一预定(predetermined)耦合分布。测量用于第一耦合分布的至少一个操作参数。然后，经由测量天线阵列在被分配给至少两个DUT天线的区域中设置第二预定耦合分布。测量用于第二耦合分布的至少一个操作参数，并且基于至少一个操作参数的测量结果来识别至少两个DUT天线之间的性能偏差。第一预定耦合分布和第二预定耦合分布每个都表示测量天线阵列和相应区域之间的电磁耦合的强度，其中第一预定耦合分布和第二预定耦合分布彼此不同。

本发明是基于通过借由调整测量天线阵列和DUT天线之间的耦合而不是将检测器探针移动到每次测量的新位置来设置不同测量条件而识别出性能偏差的想法。

换句话说，测量天线阵列在若干测量期间保持静止并且不需要在各个测量之间移动，因此使能简单且快速地识别至少两个DUT天线之间的性能偏差。

由于识别出的性能偏差，所以可以适当地确定故障DUT天线。故障DUT天线可以涉及天线元件其本身或者与天线元件连接的另一部件，诸如射频收发器。

通常，DUT天线可以涉及被测设备(DUT)。相应的DUT天线用于建立通信路径。

可以通过调整由各个测量天线中的每个所接收和/或发送的信号的加权因子来设置耦合分布，其中每个加权因子通常是复数。换句话说，耦合分布表示由测量天线阵列生成的电磁波信号的哪个部分到达特定DUT天线，反之亦然。特别地，为用于测量天线阵列的每个测量天线分别设置复杂的加权因子，以适当地适应耦合分布。

在不同耦合分布期间对至少一个操作参数的测量确保了故障DUT天线可以被定位。实际上，被分配给DUT天线的相应区域被识别出相对于之前测试的至少一个其它区域具有性能偏差。可替选地或另外地，在考虑DUT天线的相应天线元件的规格(这可能导致性能偏差(来自规格))的同时确定性能偏差。

可以针对在测试期间所应用的耦合分布中的每个来存储测量到的至少一个操作参数。因此，可以稍后将至少一个操作参数的相应值进行相互比较。

特别地，测量天线阵列和DUT天线被配置为生成和/或接收电磁射频(RF)信号。