[发明专利]发光装置及其制造方法在审
申请号: | 201811023882.8 | 申请日: | 2018-09-04 |
公开(公告)号: | CN110071137A | 公开(公告)日: | 2019-07-30 |
发明(设计)人: | 王群雄;陈政欣;吴家伟 | 申请(专利权)人: | 创王光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L21/768 |
代理公司: | 北京天驰君泰律师事务所 11592 | 代理人: | 孟锐 |
地址: | 中国台湾新竹县30*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体管 发光装置 电容 介电质 第一电极 第二电极 栅极层 电质 耦接 分隔 制造 | ||
1.一种发光装置,包含:
一发光二极管;
一晶体管,其耦接至该发光二极管,该晶体管包含一源极/漏极;以及
一导电插塞,其包含位于该源极/漏极上的一端以及耦接至该发光二极管的另一端,其中该导电插塞与该源极/漏极之间的一接触面积小于1μm乘以1μm。
2.如权利要求1的发光装置,其中该导电插塞是由一同质介电质所包围。
3.如权利要求1的发光装置,其中该发光二极管是一有机发光二极管。
4.如权利要求1的发光装置,其中该发光二极管是位于一发光阵列中,且该发光阵列具有高于800ppi的一像素密度。
5.如权利要求1的发光装置,其中该导电插塞具有大于约0.7的一长宽比。
6.如权利要求1的发光装置,其中该源极/漏极具有与该导电插塞介接的一金属硅化物。
7.如权利要求1的发光装置,其中该晶体管包含一栅极层及位于该栅极层下方的一通道层,其中该源极/漏极位于该通道层的一端上。
8.如权利要求7的发光装置,其中该信道层的一厚度系不均匀,该通道层的一中央部分为突出一高度的一台面,该高度高于该源极/漏极。
9.一种发光装置,其包含:
一晶体管,其包含一栅极层及位于该栅极层下方的一介电质;
一电容,其耦接至该晶体管,且该电容包含一第一电极、位于该第一电极上方的一第二电极,以及位于该第一电极与该第二电极之间的一介电质;以及
一接触介电质,其分隔该晶体管与该电容,该接触介电质完全围绕该晶体管与该电容,其中该接触介电质是无氮的。
10.如权利要求9的发光装置,其中该栅极层的一厚度与该第一电极的一厚度实质上相同。
11.如权利要求9的发光装置,其中该电容的该介电质包含氮。
12.如权利要求9的发光装置,其中该电容是透过该晶体管的一源极/漏极耦接至该晶体管。
13.如权利要求9的发光装置,进一步包含一基板,该基板位于该晶体管与该电容下方。
14.如权利要求9的发光装置,其中该接触介电质包含二氧化硅。
15.一种发光装置,其包含:
一晶体管,其位于一基板上方,其中该基板包含至少二个聚合物层;
一电容,其位于该基板上方并耦接至该晶体管,该电容包含一第一电极、位于该第一电极上方的一第二电极,以及位于该第一电极与该第二电极之间的一介电质;以及
一接触介电质,其分隔该晶体管与该电容,该接触介电质完全围绕该晶体管与该电容,其中该接触介电质是无氮的。
16.如权利要求15的发光装置,其中该二个聚合物层的一者具有介于约1μm至约5μm的一厚度。
17.如权利要求15的发光装置,其中该二个聚合物层的一者的一黏度低于该二个聚合层的另一者。
18.如权利要求15的发光装置,其中该基板进一步包含一层,该层位于该二个聚合物层之间,且该层包含一无机层。
19.如权利要求18的发光装置,其中该层是一多层结构。
20.如权利要求18的发光装置,其中该层包含氧化硅,或氮化硅,或氧化铝。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的